Materialanalyse für neue Technologien
Präzise Charakterisierung von Dünnschichten, Beschichtungen und Nanomaterialien für innovative Anwendungen
Neue Technologien stellen immer höhere Anforderungen an Materialien und deren Charakterisierung. Dünnschichten, funktionale Beschichtungen und nanoskalige Werkstoffe ermöglichen gezielt einstellbare thermische, elektrische und funktionale Eigenschaften und bilden damit die Grundlage zahlreicher Innovationen in Halbleitertechnik, Photonik, Energietechnik, Sensorik und modernen Materialsystemen.
Mit abnehmenden Struktur- und Schichtgrößen gewinnen Grenzflächen, Materialhomogenität und richtungsabhängige Transporteigenschaften zunehmend an Bedeutung. Bereits kleinste Veränderungen von Zusammensetzung, Schichtdicke oder Herstellungsprozess können Wärmeleitung, elektrische Leitfähigkeit und die Leistungsfähigkeit des gesamten Systems beeinflussen.
LINSEIS bietet spezialisierte Messlösungen zur thermischen, thermophysikalischen und elektrischen Charakterisierung moderner Materialsysteme – von einzelnen Dünnschichten und Beschichtungen bis hin zu komplexen Multilayern und Nanomaterialien.
Typische Anwendungen für neue Technologien
Wählen Sie Ihren spezifischen Anwendungsbereich und erhalten Sie detaillierte Einblicke in Messmethoden und Lösungen für innovative Materialsysteme.
Dünnschichtanalyse & Beschichtungen
Charakterisierung thermischer und elektrischer Eigenschaften von Dünnfilmen, Funktionsschichten, Beschichtungen und komplexen Multilayersystemen.
Nanotechnologie
Analyse thermischer, thermophysikalischer und elektrischer Eigenschaften nanoskaliger und nanostrukturierter Materialien für Forschung und technologische Entwicklung.
Messmethoden für neue Technologien
Thin Film / 3-Omega (TFA)
Bestimmung der thermischen Eigenschaften dünner Schichten mittels elektrischer Heiz- und Messstrukturen.
Frequency Domain Thermoreflectance (FDTR)
Berührungslose optische Charakterisierung von Wärmeleitfähigkeit, Temperaturleitfähigkeit und thermischen Grenzflächen in Dünnschichten und Multilayersystemen.
Hall-Effekt-Analyse (HCS)
Bestimmung von Hall-Koeffizient, Ladungsträgerkonzentration, Mobilität und spezifischem elektrischem Widerstand in Halbleitern und Dünnschichten.
Laser Flash Analysis (LFA)
Bestimmung von Temperaturleitfähigkeit und Wärmeleitfähigkeit von Substraten, Funktionsmaterialien und innovativen Werkstoffen.
Laser-Dilatometrie (DIL)
Berührungslose Bestimmung temperaturabhängiger Dimensionsänderungen und des Wärmeausdehnungsverhaltens moderner Werkstoffe.
Seebeck- & Widerstandsmessung (LSR)
Bestimmung des Seebeck-Koeffizienten und des elektrischen Widerstands von thermoelektrischen und funktionalen Materialien.
Empfohlene Geräte für neue Technologien
Top-Geräte
HCS L36
Weitere Geräte
LSR-3 (LSR L33)
PLH L53 - Periodic Laser Heating
Ausgewählte Messbeispiele aus der Praxis
Praxisnahe Messungen zeigen, wie spezialisierte Analyseverfahren zur Entwicklung und Optimierung von Dünnschichten, Beschichtungen und nanoskaligen Materialsystemen eingesetzt werden.
Thermische Stabilität von Cellulose-Nanokristallen
Thermoelektrische Charakterisierung von PEDOT:PSS-Dünnschichten
Messungen mit dem LINSEIS TFA L59 zeigen das temperaturabhängige thermoelektrische Verhalten einer 15 µm dünnen PEDOT:PSS-Schicht. Durch die kombinierte Bestimmung von elektrischer Leitfähigkeit, Seebeck-Koeffizient und Wärmeleitfähigkeit lassen sich die relevanten Transporteigenschaften erfassen und der thermoelektrische Gütefaktor ZT bestimmen. Die Ergebnisse zeigen einen steigenden ZT-Wert mit zunehmender Temperatur und demonstrieren das Potenzial von PEDOT:PSS für flexible thermoelektrische Anwendungen. Laden Sie das Whitepaper herunter und erfahren Sie mehr über die umfassende Charakterisierung thermoelektrischer Dünnschichten.
