Análisis de materiales para nuevas tecnologías
Caracterización precisa de capas finas, recubrimientos y nanomateriales para aplicaciones innovadoras
Las nuevas tecnologías plantean exigencias cada vez mayores a los materiales y a su caracterización. Las capas finas, los recubrimientos funcionales y los materiales a escala nanométrica permiten ajustar de forma específica las propiedades térmicas, eléctricas y funcionales, y constituyen así la base de numerosas innovaciones en la tecnología de semiconductores, la fotónica y tecnología energética, la tecnología de sensores y los sistemas de materiales modernos.
A medida que disminuyen el tamaño de las estructuras y de las capas, las interfaces, la homogeneidad del material y las propiedades de transporte dependientes de la dirección cobran cada vez más importancia. Incluso los cambios más pequeños en la composición, el grosor de la capa o el proceso de fabricación pueden la conducción térmica, la conductividad eléctrica y el rendimiento de todo el sistema.
LINSEIS ofrece soluciones de medición especializadas para la caracterización térmica, termofísica y eléctrica de los sistemas de materiales modernos, desde capas finas y recubrimientos individuales hasta multicapas complejas y nanomateriales.
Aplicaciones típicas de las nuevas tecnologías
Elige tu ámbito de aplicación específico y descubre información detallada sobre métodos de medición y soluciones para sistemas de materiales innovadores.
Análisis de capas finas y recubrimientos
Caracterización de las propiedades térmicas y eléctricas de películas finas, capas funcionales, recubrimientos y sistemas multicapa complejos.
Nanotecnología
Análisis de las propiedades térmicas, termofísicas y eléctricas de materiales a nanoescala y nanoestructurados para la investigación y el desarrollo tecnológico.
Métodos de medición para nuevas tecnologías
Thin Film / 3-Omega (TFA)
Determinación de las propiedades térmicas de capas finas mediante estructuras eléctricas de calentamiento y medición.
Termorreflexión en el dominio de la frecuencia (FDTR)
Caracterización óptica sin contacto de la conductividad térmica, la conductividad de temperatura y las interfaces térmicas en capas finas y sistemas multicapa.
Análisis del efecto Hall (HCS)
Determinación del coeficiente de Hall, la concentración de portadores de carga, la movilidad y la resistividad eléctrica en semiconductores y capas finas.
Análisis de Flash Láser (LFA)
Determinación de la conductividad térmica y la conductividad de la temperatura de sustratos, materiales funcionales y materiales innovadores.
Dilatometría láser (DIL)
Determinación sin contacto de los cambios dimensionales dependientes de la temperatura y del comportamiento de dilatación térmica de los materiales modernos.
Medición de Seebeck y de resistencia (LSR)
Determinación del coeficiente de Seebeck y de la resistencia eléctrica de materiales termoeléctricos y funcionales.
Dispositivos recomendados para las nuevas tecnologías
Los mejores aparatos
Otros dispositivos
LSR-3 (LSR L33)
PLH L53 - Calentamiento Periódico por Láser
Ejemplos de mediciones seleccionados de la práctica
Las mediciones prácticas muestran cómo se utilizan métodos de análisis especializados para desarrollar y optimizar capas finas, recubrimientos y sistemas de materiales a escala nanométrica.
Estabilidad térmica de los nanocristales de celulosa
Caracterización termoeléctrica de capas finas de PEDOT:PSS
Mediciones con el LINSEIS TFA L59 muestran el comportamiento termoeléctrico en función de la temperatura de una capa delgada de PEDOT:PSS de 15 µm. Al medir a la vez la conductividad eléctrica, el coeficiente Seebeck y la conductividad térmica, se pueden determinar las propiedades de transporte relevantes y calcular el factor de calidad termoeléctrico ZT. Los resultados muestran un valor de ZT que aumenta a medida que sube la temperatura y demuestran el potencial del PEDOT:PSS para aplicaciones termoeléctricas flexibles. Descarga el informe técnico y descubre más sobre la caracterización exhaustiva de las capas finas termoeléctricas.
