Analiza materiałów na potrzeby nowych technologii
Precyzyjna charakterystyka warstw cienkich, powłok i nanomateriałów do innowacyjnych zastosowań
Nowe technologie stawiają coraz wyższe wymagania wobec materiałów i ich charakteryzacji. Warstwy cienkowarstwowe, powłoki funkcjonalne i materiały w nanoskali umożliwiają precyzyjną regulację właściwości termicznych, elektrycznych i funkcjonalnych, stanowiąc tym samym podstawę licznych innowacji w technologii półprzewodników, fotonice, energetyce, czujnikach oraz nowoczesnych systemach materiałowych.
Wraz ze zmniejszaniem się rozmiarów struktur i warstw coraz większego znaczenia nabierają powierzchnie graniczne, jednorodność materiału oraz właściwości transportowe zależne od kierunku. Nawet najmniejsze zmiany składu, grubości warstwy lub procesu wytwarzania mogą przewodzenie ciepła, przewodnictwo elektryczne oraz wydajność całego systemu.
LINSEIS oferuje specjalistyczne rozwiązania pomiarowe do charakteryzacji termicznej, termofizycznej i elektrycznej nowoczesnych układów materiałowych – od pojedynczych warstw cienkich i powłok po złożone struktury wielowarstwowe i nanomateriały.
Typowe zastosowania nowych technologii
Wybierz konkretny obszar zastosowań i zapoznaj się ze szczegółowymi informacjami na temat metod pomiarowych oraz rozwiązań dla innowacyjnych systemów materiałowych.
Analiza warstw cienkich i powłoki
Charakterystyka właściwości termicznych i elektrycznych cienkich warstw, warstw funkcjonalnych, powłok oraz złożonych układów wielowarstwowych.
Nanotechnologia
Analiza właściwości termicznych, termofizycznych i elektrycznych materiałów w nanoskali oraz materiałów o strukturze nanometrycznej na potrzeby badań naukowych i rozwoju technologicznego.
Metody pomiarowe dla nowych technologii
Thin Film / 3-Omega (TFA)
Określanie właściwości termicznych cienkich warstw za pomocą elektrycznych struktur grzewczych i pomiarowych.
Termorefleksja w dziedzinie częstotliwości (FDTR)
Bezkontaktowa charakterystyka optyczna przewodności cieplnej, przewodności temperaturowej oraz granic faz termicznych w cienkich warstwach i układach wielowarstwowych.
Analiza efektu Halla (HCS)
Określanie współczynnika Halla, stężenia nośników ładunku, ruchliwości i rezystancji właściwej w półprzewodnikach i cienkich warstwach.
Laserowa analiza błysku (LFA)
Określanie przewodności termicznej i przewodności cieplnej podłoży, materiałów funkcjonalnych oraz materiałów innowacyjnych.
Dilatometria laserowa (DIL)
Bezdotykowe określanie zmian wymiarów zależnych od temperatury oraz właściwości rozszerzalności cieplnej nowoczesnych materiałów.
Pomiar Seebecka i rezystancji (LSR)
Określenie współczynnika Seebecka oraz oporu elektrycznego materiałów termoelektrycznych i funkcjonalnych.
Urządzenia zalecane do nowych technologii
Najlepsze urządzenia
HCS L36
Inne urządzenia
LSR-3 (LSR L33)
PLH L53 - Okresowe ogrzewanie laserowe
Laser DIL L75
(Laser DIL L73)
Wybrane przykłady pomiarów z praktyki
Pomiary przeprowadzone w warunkach praktycznych pokazują, w jaki sposób specjalistyczne metody analityczne są wykorzystywane do opracowywania i optymalizacji warstw cienkich, powłok oraz układów materiałowych w skali nano.
Stabilność termiczna nanokryształów celulozy
Charakterystyka termoelektryczna cienkich warstw PEDOT:PSS
Pomiary przy użyciu LINSEIS TFA L59 wykazują zależne od temperatury właściwości termoelektryczne warstwy PEDOT:PSS o grubości 15 µm. Dzięki połączonemu pomiarowi przewodności elektrycznej, współczynnika Seebecka i przewodności cieplnej można określić istotne właściwości transportowe oraz obliczyć współczynnik jakości termoelektrycznej ZT. Wyniki wskazują na wzrost wartości ZT wraz ze wzrostem temperatury i potwierdzają potencjał PEDOT:PSS w zakresie elastycznych zastosowań termoelektrycznych. Pobierz dokument i dowiedz się więcej o kompleksowej charakterystyce cienkich warstw termoelektrycznych.
