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DIL L75 VS CRYO – Kupfer – Thermische Ausdehnung

Kupferprobe – Wärmeausdehnung / Tieftemperatur

Thermische Analyse beinhaltet nicht nur Messungen bei hohen Temperaturen, sondern auch Experimente bei sehr geringen Temperaturen. Es gibt viele Bereiche, in denen Messungen bei niedrigen oder sogar extrem niedrigen Temperaturen interessant sind. Zum Beispiel bei der Satellitentechnik und Raumfahrt oder auch bei Quantencomputern liegen die Temperaturen, denen die verwendeten Materialien standhalten müssen, unter 10 K (- 260°C).

Natürlich müssen Wärmeausdehnung, Phasenwechsel und Reaktivität in diesem Bereich bekannt sein. Für die thermische Ausdehnung kann die Linseis-Dilatometer-Serie L 75 mit einem Helium-Kryostat im geschlossenen Kreislauf ausgestattet werden, um Messungen im Bereich von 10 K zu ermöglichen.

App. Nr. 02-001-005 DIL L75 VS CRYO – Kupfer – Thermische Ausdehnung

App. Nr. 02-001-005 DIL L75 VS CRYO – Kupfer – Thermische Ausdehnung

In diesem Beispiel wurde ein Kupferstandard mit einem Linseis L 75 Kryo-Dilatometer von 10 K bis 400 K (-260°C bis 125 °C) gemessen. Dazu wurde die Probe in das Messgerät eingelegt, der Probenraum evakuiert und dann die Probe mit kontrollierter Abkühlrate auf 10 K abgekühlt, gefolgt von der angegebenen Ausdehnungsmessung bei kontrollierter Aufheizung mit 5 K/min.

Wie die Kurve zeigt, gibt es eine Zone mit nichtlinearer Ausdehnung zwischen -260°C und 200°C, gefolgt von linearer Ausdehnung von -200°C bis 125°C. Der CTE bei der Tiefsttemperatur zeigt ebenfalls eine leichte Abweichung.

Passendes Messgerät

DIL L75 Cryo

  • Vertikal “Zero-Friction” Dilatometer
  • Multi-Ofen-Option (bis zu 3 Ofen)
  • Verschiedene Ofen: -263 up to 1000/1600/1750 …2800°C
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