Análise de materiais para eletrónica e semicondutores
Caracterização precisa de semicondutores, camadas finas e componentes eletrónicos para investigação, desenvolvimento e produção
Os semicondutores e os componentes eletrónicos constituem a base das tecnologias modernas – desde microprocessadores e eletrónica de potência, passando por sensores, até aos LEDs e aos sistemas fotovoltaicos. Com o aumento da densidade de potência e da miniaturização, também aumentam as exigências em termos de qualidade dos materiais, dissipação de calor e fiabilidade.
O desenvolvimento da eletrónica moderna exige um conhecimento profundo das propriedades térmicas, elétricas e estruturais dos materiais. Os métodos de análise modernos fornecem informações importantes sobre a condutividade térmica, a estabilidade térmica, as propriedades elétricas, as estruturas em camadas e os processos de envelhecimento.
Com mais de 69 anos de experiência, a LINSEIS oferece soluções para a caracterização de materiais semicondutores, camadas finas e componentes eletrónicos nas áreas da investigação, desenvolvimento e controlo de qualidade industrial.
Aplicações típicas na área da eletrónica e dos semicondutores
Escolhe a tua aplicação específica e descobre informações detalhadas sobre a caracterização de materiais, métodos de medição e soluções inovadoras para sistemas eletrónicos modernos
Materiais de banda larga
Análise de semicondutores de SiC, GaN e outros semicondutores de banda larga para eletrónica de potência, aplicações a altas temperaturas e gestão térmica eficiente.
Métodos de medição para eletrónica e semicondutores
Análise de flash laser (LFA)
Determinação da condutividade térmica, da condutividade de temperatura e da difusão térmica para uma gestão térmica eficiente em semicondutores e componentes eletrónicos.
Analisador de frequência a laser de película fina (TF-LFA)
Caracterização das propriedades térmicas de camadas finas e interfaces para a microeletrónica moderna e as tecnologias de semicondutores.
Analisador de Camadas Finas (TFA)
Análise da condutividade térmica de camadas ultrafinas, revestimentos e materiais eletrónicos para investigação e otimização de processos.
Análise do efeito Hall (HCS)
Determinação da concentração de portadores de carga, da mobilidade e da resistência elétrica para o desenvolvimento de materiais semicondutores modernos.
Calorimetria diferencial dinâmica (DSC)
Análise de transições de fase, capacidade térmica e reações de endurecimento em materiais de embalagem, colas e materiais eletrónicos.
Análise térmica simultânea (STA)
Análise simultânea de variações de massa e efeitos térmicos para estudar a estabilidade térmica e os processos de envelhecimento dos materiais eletrónicos.
Equipamentos recomendados para aplicações com polímeros
Os melhores aparelhos
Outros aparelhos
CAL L92 - Micro-
calorímetro
DSC L63
Testador TEG (TEG L34)
LSR-3 (LSR L31)
PLH L53 - Aquecimento periódico a laser
Exemplos de medições selecionados da prática
Medidas práticas mostram como os métodos de análise modernos são utilizados para resolver problemas reais relacionados com polímeros.
Otimização do p-GaN através de medições do efeito Hall
Propriedades de transporte elétrico de camadas finas de Sb₂Te₃
As propriedades de transporte elétrico das camadas finas são fundamentais para o desenvolvimento de aplicações modernas em semicondutores e termoelétricos. Com o LINSEIS TFA L59 é possível determinar com precisão as características de resistência e dos portadores de carga em função da temperatura. Este exemplo prático mostra a caracterização de camadas finas de Sb₂Te₃ depositadas por ALD e fornece informações importantes sobre o comportamento de transporte elétrico em materiais funcionais de camada fina.
