Analisi dei materiali per l'elettronica e i semiconduttori
Caratterizzazione precisa di semiconduttori, film sottili e componenti elettronici per la ricerca, lo sviluppo e la produzione
I semiconduttori e i componenti elettronici sono alla base delle tecnologie moderne: dai microprocessori e dall’elettronica di potenza ai sensori, fino ai LED e ai sistemi fotovoltaici. Con l’aumentare della densità di potenza e della miniaturizzazione, crescono anche i requisiti in termini di qualità dei materiali, dissipazione del calore e affidabilità.
Lo sviluppo dell’elettronica moderna richiede una profonda comprensione delle proprietà termiche, elettriche e strutturali dei materiali. I moderni metodi di analisi forniscono informazioni importanti sulla conducibilità termica, la stabilità termica, le proprietà elettriche, le strutture a strati e i processi di invecchiamento.
Con oltre 69 anni di esperienza, LINSEIS offre soluzioni per la caratterizzazione di materiali semiconduttori, film sottili e componenti elettronici nei settori della ricerca, dello sviluppo e del controllo qualità industriale.
Applicazioni tipiche per l'elettronica e i semiconduttori
Scegli la tua applicazione specifica e scopri informazioni dettagliate sulla caratterizzazione dei materiali, sui metodi di misurazione e sulle soluzioni innovative per i moderni sistemi elettronici
Materiali a banda larga
Analisi di semiconduttori SiC, GaN e altri semiconduttori a banda larga per l’elettronica di potenza, le applicazioni ad alta temperatura e una gestione termica efficiente.
Metodi di misurazione per l'elettronica e i semiconduttori
Analisi laser flash (LFA)
Determinazione della conducibilità termica, della conducibilità termica e della diffusione termica per una gestione termica efficiente nei semiconduttori e nei componenti elettronici.
Analizzatore di frequenza laser a film sottile (TF-LFA)
Caratterizzazione delle proprietà termiche di strati sottili e interfacce per la microelettronica moderna e le tecnologie dei semiconduttori.
Analizzatore di film sottili (TFA)
Analisi della conducibilità termica di strati ultrasottili, rivestimenti e materiali elettronici per la ricerca e l’ottimizzazione dei processi.
Analisi dell'effetto Hall (HCS)
Determinazione della concentrazione dei portatori di carica, della mobilità e della resistenza elettrica per lo sviluppo di materiali semiconduttori moderni.
Calorimetria differenziale dinamica (DSC)
Analisi delle transizioni di fase, della capacità termica e delle reazioni di indurimento nei materiali da imballaggio, negli adesivi e nei materiali elettronici.
Analisi termica simultanea (STA)
Analisi simultanea delle variazioni di massa e degli effetti termici per lo studio della stabilità termica e dei processi di invecchiamento dei materiali elettronici.
Apparecchi consigliati per applicazioni con polimeri
I migliori dispositivi
Altri dispositivi
CAL L92 - Calorimetro micro
DSC L63
TGA HP L85
TGA L83
STA HP L85
Tester TEG (TEG L34)
LSR-3 (LSR L31)
PLH L53 - Riscaldamento laser periodico
LFA L52
STA L81
Esempi di misurazioni selezionati tratti dalla pratica
Le misurazioni pratiche mostrano come i moderni metodi di analisi vengano utilizzati per risolvere problemi concreti legati ai polimeri.
Ottimizzazione del p-GaN tramite misurazioni dell'effetto Hall
Proprietà di trasporto elettrico dei film sottili di Sb₂Te₃
Le proprietà di trasporto elettrico dei film sottili sono fondamentali per lo sviluppo delle moderne applicazioni nel campo dei semiconduttori e dei materiali termoelettrici. Con il LINSEIS TFA L59 è possibile determinare con precisione le proprietà di resistenza e dei portatori di carica in funzione della temperatura. Questo esempio pratico illustra la caratterizzazione di film sottili di Sb₂Te₃ depositati tramite ALD e fornisce importanti informazioni sul comportamento di trasporto elettrico nei materiali funzionali a film sottile.
