Análise de materiais para novas tecnologias
Caracterização precisa de camadas finas, revestimentos e nanomateriais para aplicações inovadoras
As novas tecnologias impõem requisitos cada vez mais exigentes aos materiais e à sua caracterização. As camadas finas, os revestimentos funcionais e os materiais à escala nanométrica permitem ajustar de forma específica as propriedades térmicas, elétricas e funcionais, constituindo assim a base de inúmeras inovações na tecnologia de semicondutores, fotónica, tecnologia energética, na tecnologia de sensores e nos sistemas de materiais modernos.
À medida que as dimensões das estruturas e das camadas diminuem, as interfaces, a homogeneidade do material e as propriedades de transporte dependentes da direção ganham cada vez mais importância. Mesmo as mais pequenas alterações na composição, na espessura da camada ou no processo de fabrico podem condução térmica, condutividade elétrica e o desempenho de todo o sistema.
A LINSEIS oferece soluções de medição especializadas para a caracterização térmica, termofísica e elétrica de sistemas de materiais modernos – desde camadas finas e revestimentos individuais até multicamadas complexas e nanomateriais.
Aplicações típicas das novas tecnologias
Escolhe a tua área de aplicação específica e descobre informações detalhadas sobre métodos de medição e soluções para sistemas de materiais inovadores.
Análise de camadas finas e revestimentos
Caracterização das propriedades térmicas e elétricas de películas finas, camadas funcionais, revestimentos e sistemas multicamadas complexos.
Nanotecnologia
Análise das propriedades térmicas, termofísicas e elétricas de materiais à escala nanométrica e nanoestruturados para investigação e desenvolvimento tecnológico.
Métodos de medição para novas tecnologias
Thin Film / 3-Omega (TFA)
Determinação das propriedades térmicas de camadas finas através de estruturas elétricas de aquecimento e medição.
Termorreflectância no domínio da frequência (FDTR)
Caracterização ótica sem contacto da condutividade térmica, da condutividade de temperatura e das interfaces térmicas em camadas finas e sistemas multicamadas.
Análise do efeito Hall (HCS)
Determinação do coeficiente de Hall, da concentração de portadores de carga, da mobilidade e da resistividade elétrica em semicondutores e camadas finas.
Análise de flash laser (LFA)
Determinação da condutividade térmica e da condutividade de temperatura de substratos, materiais funcionais e materiais inovadores.
Dilatometria a laser (DIL)
Determinação sem contacto das variações dimensionais dependentes da temperatura e do comportamento de dilatação térmica de materiais modernos.
Medição de Seebeck e de resistência (LSR)
Determinação do coeficiente de Seebeck e da resistência elétrica de materiais termoelétricos e funcionais.
Dispositivos recomendados para novas tecnologias
Os melhores aparelhos
HCS L36
Outros aparelhos
LSR-3 (LSR L33)
PLH L53 - Aquecimento periódico a laser
Exemplos de medições selecionados da prática
Medidas práticas mostram como os métodos de análise especializados são utilizados no desenvolvimento e na otimização de camadas finas, revestimentos e sistemas de materiais à escala nanométrica.
Estabilidade térmica dos nanocristais de celulose
Caracterização termoelétrica de camadas finas de PEDOT:PSS
Medições com o LINSEIS TFA L59 mostram o comportamento termoelétrico dependente da temperatura de uma camada fina de PEDOT:PSS com 15 µm de espessura. Através da determinação combinada da condutividade elétrica, do coeficiente de Seebeck e da condutividade térmica, é possível registar as propriedades de transporte relevantes e determinar o fator de qualidade termoelétrico ZT. Os resultados mostram um valor de ZT crescente à medida que a temperatura aumenta e demonstram o potencial do PEDOT:PSS para aplicações termoelétricas flexíveis. Faz o download do white paper e descobre mais sobre a caracterização abrangente de camadas finas termoelétricas.
