Análisis de materiales para electrónica y semiconductores
Caracterización precisa de semiconductores, capas finas y componentes electrónicos para investigación, desarrollo y fabricación
Los semiconductores y los componentes electrónicos son la base de las tecnologías modernas: desde los microprocesadores y la electrónica de potencia, pasando por los sensores, hasta los LED y los sistemas fotovoltaicos. A medida que aumenta la densidad de potencia y avanza la miniaturización, también crecen las exigencias en cuanto a la calidad de los materiales, la disipación del calor y la fiabilidad.
El desarrollo de la electrónica moderna requiere un profundo conocimiento de las propiedades térmicas, eléctricas y estructurales de los materiales. Los métodos de análisis modernos proporcionan información importante sobre la conductividad térmica, la estabilidad térmica, las propiedades eléctricas, las estructuras en capas y los procesos de envejecimiento.
Con más de 69 años de experiencia, LINSEIS ofrece soluciones para la caracterización de materiales semiconductores, capas finas y componentes electrónicos en los ámbitos de la investigación, el desarrollo y el control de calidad industrial.
Aplicaciones típicas para electrónica y semiconductores
Elige tu aplicación concreta y descubre información detallada sobre la caracterización de materiales, los métodos de medición y las soluciones innovadoras para los sistemas electrónicos modernos
Materiales de banda ancha
Análisis de semiconductores de SiC, GaN y otros de banda ancha para electrónica de potencia, aplicaciones a alta temperatura y gestión térmica eficiente.
Métodos de medición para electrónica y semiconductores
Análisis de Flash Láser (LFA)
Determinación de la conductividad térmica, la conductividad de temperatura y la difusión térmica para una gestión térmica eficiente en semiconductores y componentes electrónicos.
Analizador de frecuencia por láser de película fina (TF-LFA)
Caracterización de las propiedades térmicas de capas finas e interfaces para la microelectrónica moderna y las tecnologías de semiconductores.
Analizador de películas finas (TFA)
Análisis de la conductividad térmica de capas ultrafinas, recubrimientos y materiales electrónicos para la investigación y la optimización de procesos.
Análisis del efecto Hall (HCS)
Determinación de la concentración de portadores de carga, la movilidad y la resistencia eléctrica para el desarrollo de materiales semiconductores modernos.
Calorimetría diferencial dinámica (DSC)
Análisis de transiciones de fase, capacidad térmica y reacciones de los endurecedores en materiales de embalaje, adhesivos y materiales electrónicos.
Análisis térmico simultáneo (STA)
Análisis simultáneo de los cambios de masa y los efectos térmicos para estudiar la estabilidad térmica y los procesos de envejecimiento de los materiales electrónicos.
Equipos recomendados para aplicaciones con polímeros
Los mejores aparatos
Otros dispositivos
CAL L92 - Microcalorímetro
DSC L63
TEG-Tester (TEG L34)
LSR-3 (LSR L31)
PLH L53 - Calentamiento Periódico por Láser
Ejemplos de mediciones seleccionados de la práctica
Las mediciones prácticas muestran cómo se utilizan los métodos de análisis modernos para resolver problemas reales relacionados con los polímeros.
Optimización del p-GaN mediante mediciones del efecto Hall
Propiedades de transporte eléctrico de las capas finas de Sb₂Te₃
Las propiedades de transporte eléctrico de las capas finas son fundamentales para el desarrollo de aplicaciones modernas en el ámbito de los semiconductores y la termoelectricidad. Con el LINSEIS TFA L59 se pueden determinar con precisión las propiedades de resistencia y de portadores de carga en función de la temperatura. Este ejemplo práctico muestra la caracterización de capas finas de Sb₂Te₃ depositadas mediante ALD y aporta información importante sobre el comportamiento del transporte eléctrico en materiales funcionales de capa fina.
