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Analyse de films minces

Les propriétés physiques des couches minces sont de plus en plus important dans les industries qui utilisent les matériaux tels que: les matériaux thermoélectriques, les diodes électroluminescentes (LED) , les mémoires à changement de phase, les écrans plats ou encore les semi-conducteurs. Toutes ces industries déposent une couche sur un substrat afin de donner une fonction particulière à un dispositif.

Etant donné que les propriétés physiques de ces couches se distinguent des produits en vrac, ces données sont nécessaires pour de nombreuses applications différentes.

Basé sur la technique du Flash Laser , le “Thin-Film-Laserflash” de Linseis offre maintenant toute une gamme de nouvelles possibilités pour analyser les propriétés thermodynamiques des couches minces de 80nm jusqu’à une épaisseur de 20 um.

TFA

Linseis TFA

Dispositif unique au monde pour une caractérisation complète des couches minces de l’échelle des nanomètres aux micromètres

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TF-LFA

Linseis TF-LFA

Laser Flash pour couches minces – Thermo-réflectance dans le domaine temporel (TDTR) – Diffusivité thermique des couches minces

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