Tester TEG (TEG L34)
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto Negli ultimi anni è aumentata la richiesta di tecnologie per l’utilizzo di energie rinnovabili e di opzioni di ottimizzazione per l’uso più efficace delle risorse fossili. Il fenomeno fisico della termoelettricità offre la possibilità di convertire l’energia termica direttamente in elettricità e rappresenta […]
LSR-3 (LSR L31)
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto Con la piattaforma LSR LSR-3 (LSR L31) di Linseis, i materiali termoelettrici possono essere caratterizzati in modo quasi completo, sia sotto forma di materiale solido che sotto forma di film sottili. Nella versione base LSR-3 (LSR L31), sia il coefficiente di Seebeck che […]
LSR-1 (LSR L32)
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto Con la piattaforma LSR di Linseis (LSR L32), i materiali termoelettrici sotto forma di materiali sfusi e film sottili possono essere caratterizzati in modo semplice e pratico. Nella versione base – LSR-1 – è possibile misurare in modo completamente automatico e simultaneo sia […]
TFA L59
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto Possibilità entusiasmantiRivoluzionario sistema di misurazione per la determinazione delle proprietà fisiche dei film sottili. Piattaforma di misura altamente integrata e facile da usare. Le proprietà fisiche dei film sottili differiscono da quelle dei materiali solidi, in quanto gli effetti parassiti della superficie sono […]
TF-LFA L54
Caratteristiche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo TF-LFA L54: Termoriflettanza nel dominio della frequenza per l’analisi termica di film sottili Il LINSEIS TF-LFA L54 è un sistema di misurazione avanzato basato sul laser che misura la Termoreflettanza nel dominio della frequenza (FDTR)per la caratterizzazione termica senza contatto di film sottili film sottili e strutture multistrato. […]
Misuratore LZT (LZT L33)
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto Il Linseis LZT-Meter (LZT L33) è il primo strumento al mondo disponibile in commercio per determinare la cifra di merito termoelettrica ZT utilizzando una misurazione combinata laser-flash (LSR + LFA) in un unico dispositivo. Il dispositivo di misurazione può quindi essere utilizzato per […]
HFM L57
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto Il misuratore di flusso termico LINSEIS HFM L57, in breve HFM, è uno strumento facile da usare per determinare la conduttività termica di materiali isolanti a bassa conduttività termica e di altri materiali. Fornisce risultati rapidi e di elevata precisione. Grazie al suo […]
STA HP L84
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto La termobilancia/termogravimetria ad alta pressione Linseis HP-TGA-DSC (STA HP L84) apre aree di applicazione completamente nuove nell’analisi termica simultanea. Il sistema può analizzare sia le variazioni di peso (TGA) sia le reazioni caloriche (DTA/DSC) nell’intervallo di temperatura da RT a 1800°C e nell’intervallo […]
Tester TIM (TIM L58)
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo Descrizione del Al punto La gestione del calore e la protezione dalle fughe termiche nelle batterie e negli imballaggi elettronici stanno diventando sempre più importanti con l’aumento della densità di potenza di questi dispositivi. La gestione termica di questi sistemi complessi non è banale e richiede una […]
PLH L53
Caratteristiche uniche Specifiche Applicazioni Download Richiedi un preventivo PLH L53: Riscaldamento laser periodico per la caratterizzazione termica di alta precisione di materiali sottili Il LINSEIS PLH L53 è un sistema di misurazione ad alta precisione basato sul laser per la determinazione della conduttività termica di film sottili e membrane nell’ordine dei micrometri utilizzando il metodo del […]