TF-LFA L54: İnce filmlerin termal analizi için Frekans Alanı Termoreflektansı
LINSEIS TF-LFA L54, lazer tabanlı gelişmiş bir ölçüm sistemidir. Frekans Alanı Termoreflektansı (FDTR)ince malzemelerin temassız termal karakterizasyonu için teknoloji ince filmler ve çok katmanlı yapılar.
Bu, aşağıdakilerin kesin olarak belirlenmesini sağlar termal iletkenlik, termal difüzivite, effusivity, hacimsel ısı kapasitesi ve termal limit iletkenliği – sadece birkaç nanometrelik ultra ince katmanlarda bile.
Araştırma ve üst düzey endüstriyel uygulamalar için tasarlanan TF-LFA L54 , olağanüstü hassasiyeti, geniş bir sıcaklık aralığını (oda sıcaklığından 500 °C’ye kadar) ve anizotropi, numune haritalama ve optik görselleştirme için modüler seçenekleri bir araya getirir.
Bu yenilikçi sistem olağanüstü hassasiyet, kararlılık ve esneklik sunar ve bu nedenle aşağıdakilerin karakterizasyonu için idealdir yarı iletkenlerkaplamalar, termoelektrik malzemeler, LED’ler ve diğer gelişmiş ince film teknolojileri.
Benzersiz özellikler
Optik teknoloji güncellemesi
TF-LFA L54, ince filmlerin temassız termal analizi için Frekans Alanı Termoreflektans (FDTR) yöntemini kullanır.
FDTR teknolojisinin en önemli avantajları şunlardır
- Temassız ölçüm – mekanik paraziti ortadan kaldırır ve hassas veya mikroskobik numunelerde maksimum doğruluk sağlar.
- Yüksek frekans doğruluğu – çeşitli ince film malzemeleri için geniş bir modülasyon aralığında termal özelliklerin belirlenmesini sağlar.
- Geliştirilmiş stabilite – optimize edilmiş optik hizalama ve otomatik odaklama, manuel ayarlama olmadan tekrarlanabilir sonuçları garanti eder.
- Geniş ölçüm aralığı – 500 °C’ye kadar olan sıcaklıklarda birkaç nanometreden birkaç mikrometreye kadar kalınlığa sahip katmanların analiz edilmesini sağlar.
Yeni donanım fonksiyonları
Gelişmiş optik tasarım
TF-LFA L54, hassas uyarma ve algılama için modüle edilmiş bir pompa lazeri (405 nm) ve sürekli bir prob lazeri (532 nm) ile son teknoloji ürünü çift lazer yapılandırmasına sahiptir. Bu optimize edilmiş yapılandırma, ultra ince kaplamalarda bile maksimum sinyal kararlılığı ve ölçüm hassasiyeti sağlar.
Otomatik odak ayarı
Entegre bir otomatik odaklama sistemi, ölçüm sırasında lazer konumunu sürekli olarak optimize ederek manuel ayarlama ihtiyacını ortadan kaldırır ve her numune için tekrarlanabilir sonuçları garanti eder.
Termal haritalama fonksiyonu
İsteğe bağlı numune haritalama modu, kullanıcıların numune yüzeyindeki birden fazla noktada veya alanda termal özellikleri analiz etmesine olanak tanır – homojen olmayan katmanları incelemek veya kaplamaların homojenliğini kontrol etmek için idealdir.
Entegre kamera sistemi
İsteğe bağlı kamera modülü, ölçüm alanının canlı görüntüsünü sağlar ve böylece lazer noktasının tam olarak konumlandırılmasına ve numune yüzeyinin görsel olarak incelenmesine olanak tanır.
Linseis Laboratuvar Bağlantısı
Linseis Lab Link ile ölçüm sonuçlarındaki belirsizlikleri ortadan kaldırmak için entegre bir çözüm sunuyoruz. Yazılım aracılığıyla uygulama uzmanlarımıza doğrudan erişim sayesinde, doğru ölçüm prosedürü ve sonuçların nasıl analiz edileceği konusunda tavsiye alırsınız. Bu doğrudan iletişim, optimum sonuçlar sağlar ve doğru analiz ve araştırma ve sorunsuz bir süreç akışı için ölçümlerinizin verimliliğini en üst düzeye çıkarır.
Çift lazer konfigürasyonu
TF-LFA L54, modüle edilmiş bir pompa lazer (405 nm) ve sürekli bir prob lazerden (532 nm) oluşan yüksek hassasiyetli bir çift lazer konfigürasyonuna sahiptir.
Bu yapılandırma, termal yansıma sinyalinin istikrarlı, yüksek çözünürlüklü algılanmasını sağlar ve nanometre aralığındaki ultra ince katmanlarda bile doğru termal ölçümler sağlar.
Otomatik optik hizalama
Entegre bir otomatik odaklama ve hizalama sistemi, çalışma sırasında lazer odağını sürekli olarak ayarlar.
Bu, manuel kalibrasyon ihtiyacını ortadan kaldırarak tutarlı ölçüm koşulları, gelişmiş tekrarlanabilirlik ve daha az operatör etkisi sağlar.
Hihglights
Kapsamlı termal karakterizasyon:
- Termal iletkenlik, ısı kapasitesi, termal difüzivite ve termal efüzivite ölçümü.
- İki komşu katman arasındaki termal temasın belirlenmesi.
Anizotropi fonksiyonu:
- Opsiyonel fonksiyon
termal iletkenliğini ölçmek için
hem
geçiş yönünde
(malzeme boyunca)
hem de düzlemde
(
lazer uyarımına dik).
Geniş sıcaklık aralığı:
- Cihaz
ince filmlerin termal özelliklerini
oda sıcaklığında 500°C'ye kadar ölçebilir
Termal görüntüleme:
- Opsiyonel
numune haritalama fonksiyonu
ile numunenin termal
özellikleri
belirli bir alan
veya
yüzey noktaları üzerinden izlenebilir,
homojenlik testleri için idealdir.
Otomatik optimizasyon ve kamera seçeneği:
- Ölçüm sonuçlarını iyileştirmek için lazer ışınının otomatik optimizasyonu
. - Görsel
bilgi sağlayan ve
örnek yüzeyindeki ilgi noktalarının
seçimini kolaylaştıran ek kamera seçeneği.
Termal
temas dirençlerinin/iletken değerlerin ölçümü:
- İki katman arasındaki
örneğin
örnek ile yüzey veya örnek ile
dönüştürücü katman arasındaki termal temasın ölçümü.
Temel özellikler
Temassız optik ölçüm
Frekans alanı termoreflektansını (FDTR) kullanan TF-LFA L54, hassas ince filmler ve mikro yapılar için ideal olan lazer tabanlı hassasiyetle temassız termal analiz gerçekleştirir.
Kapsamlı termal karakterizasyon
Sistem, yoğunluk veya ısı kapasitesi hakkında herhangi bir varsayımda bulunmadan termal iletkenliği, difüziviteyi, efüziviteyi, hacimsel ısı kapasites ini ve termal limit iletkenliğini aynı anda belirler.
Otomatik odaklama ve hizalama
Entegre bir otomatik odaklama sistemi, çalışma sırasında lazer konumunu sürekli olarak ayarlayarak her numune için maksimum stabilite, tekrarlanabilirlik ve ölçüm doğruluğu sağlar.
Entegre LINSEIS platformu
Entegre LINSEIS yazılımı, maksimum proses güvenilirliği ve hassasiyeti için donanım ve yazılımı birleştiren kapsamlı bir çözüm sunar. Standartlaştırılmış platform, özellikle sağlam ve güvenilir bir genel sistem için harici ortaklardan gelen bileşenlerin ve cihazların sorunsuz entegrasyonunu sağlar.
Sorularınız mı var? Sadece bizi arayın!
+49 (0) 9287/880 0
Perşembe’ye kadar sabah 8’den akşam 4’e kadar
ve Cuma günleri sabah 8’den akşam 12’ye kadar hizmet vermektedir.
Sizin için buradayız!
Teknik Özellikler
Ultra ince katman kapasitesi: 10 nm ila 20 µm arasındaki katmanları analiz eder
Yüksek sıcaklıkta çalışma: kontrollü atmosferler altında 500 °C’ye kadar ölçümler
Geniş ölçüm aralığı: 0,01 ila 2000 W/m-K arası termal iletkenlik
Son teknoloji ince film analizi için geliştirilen güçlü TF-LFA’mızı keşfedin:
- Ölçüm yöntemi: Temassız, lazer tabanlı termal analiz için frekans alanı termoreflektansı (FDTR)
- Analiz edilen parametreler: Termal iletkenlik, difüzivite, efüzivite, hacimsel ısı kapasitesi ve arayüzey iletkenliği
- Optik hizalama: maksimum stabilite ve hassasiyet için otomatik odaklamalı çift lazer yapılandırması
- Anizotropi seçeneği: Çok katmanlı ve 2D malzemelerin düzlem içi ve düzlemler arası termal iletkenliğini ölçer
- Termal haritalama: Film homojenliğini ve kaplama kalitesini değerlendirmek için yüzey haritalama modu
Anizotropi ölçümü – tüm yönlerde termal iletkenlik
TF-LFA L54, termal iletkenliğin anizotropisinin hassas bir şekilde belirlenmesini sağlar – ince katmanlarda ve çok katmanlı yapılarda hem düzlem içi hem de çapraz düzlem ısı taşınımını ölçer.
Bu özellik, aşağıdakiler gibi gelişmiş malzemeler için gereklidir yarı iletkenlertermoelektrik, 2D kristaller ve batarya akü bileşenleri Isı akış yönünün performans ve güvenilirlik üzerinde kritik bir etkiye sahip olduğu durumlarda.
Yardımlarıyla frekans alanı termoreflektansı (FDTR) Sistem, araştırmacıların karmaşık, anizotropik malzemelerin termal davranışlarını tam olarak anlamalarına ve optimize etmelerine olanak tanıyan olağanüstü doğrulukta temassız, yöne özgü veriler sağlar.
Termal iletkenliğin anizotropisi
Modern bataryaların ve elektronik bileşenlerin geliştirilmesinde, ısı akış yönü performans ve güvenlik için belirleyici bir faktördür.
Bir malzemedeki termal iletkenlik yöne bağlı olarak değişebildiğinden – anizotropi olarak bilinen bir olgu – düzlem içi (yüzeye paralel) ve düzlemler arası (yüzeye dik) ısı taşınımını ayırt etmek önemlidir.
Düzlem içi iletkenlik, pil veya yarı iletken katmanlar arasında verimli ısı dağılımı için kritik önem taşırken, hassas bileşenleri koruyan SiO₂ ince filmler gibi termal bariyer kaplamalarda düşük düzlemler arası iletkenlik arzu edilir.
PdSe₂ gibi iki boyutlu malzemeler güçlü anizotropi sergiler ve enerji dönüşümü ve gelişmiş termal yönetim için umut verici fırsatlar sunar.
Bu malzemelerden tam olarak faydalanmak için yöne bağlı termal testler gereklidir.
Şekil 2: 297 nm kalınlığındaki PdSe2’nin düzlem dışı ve düzlem içi termal iletkenliği.
TF-LFA, böyle bir 2D malzemenin termal iletkenliğini sadece her iki yönde değil, aynı zamanda her iki yönde de ölçme imkanı sunar.
ana yönlerde, düzlemin içinde ve dışında (bkz. Şekil 2 b & 2 c), ancak yüzeyin dönme ekseni boyunca bile iki
farklı kristalografik seviyeler.
*Ölçümler Dr. Juan Sebastian Reparaz tarafından gerçekleştirilmiştir.
Yöntem
Frekans Alanı Termoreflektansı (FDTR)
Bu Frekans Alanı Termoreflektansı (FDTR)tekniği, ince filmlerin termofiziksel özelliklerini belirlemek için kullanılan optik, temassız bir yöntemdir. ince katmanlar ve çok katmanlı yapılar.
Bir malzemenin yüzeyinin harmonik olarak modüle edilmiş bir lazer uyarımına verdiği termal reaksiyonu ölçer ve böylece mekanik temas veya tahrip edici hazırlık olmadan hassas analiz sağlar.
Bu yöntemde, bir pompa lazeri numunenin yüzeyini periyodik olarak ısıtırken, bir prob lazeri sıcaklık dalgalanmaları nedeniyle yansıtıcılıktaki küçük değişiklikleri tespit eder.
Isıtma ve reaksiyon arasındaki faz kayması, aşağıdakiler hakkında ayrıntılı bilgi sağlar termal iletkenlik, termal difüzivite, effusivity, hacimsel ısı kapasitesi ve termal limit iletkenliği.
Sinyali frekans alanında analiz eden TF-LFA L54, darbe süresi veya optik hizalama ile ilgili deneysel hataları ortadan kaldırarak yüksek ölçüm kararlılığı ve doğruluğu sağlar.
Bu da FDTR’yi ince katmanlar ve kaplamalar için ideal hale getirir, yarı iletkenlertermoelektrik malzemeler ve geleneksel temas tabanlı tekniklerin sınırlarına ulaştığı 2D yapılar.
TF-LFA L54’ün çalışma prensibi
TF-LFA L54, lazer modülasyonu ve yansıma ölçümüne dayanan tamamen optik, temassız bir teknik olan Frekans Alanı Termoreflektans (FDTR) yöntemini kullanarak ince filmlerin ve çok katmanlı yapıların termofiziksel özelliklerini belirler.
Ölçüm sırasında, modüle edilmiş bir pompa lazeri numunenin yüzeyini periyodik olarak ısıtırken, bir prob lazeri ortaya çıkan sıcaklık dalgalanmalarının neden olduğu küçük yansıma değişikliklerini izler.
Termal uyarım ve yansıyan sinyal arasındaki faz kayması yüksek hassasiyetle kaydedilir ve frekansa bağlı bir ısı taşıma modeli kullanılarak analiz edilir.
TF-LFA L54 bu verileri termal iletkenlik, difüzivite, efüzivite, hacimsel ısı kapasitesi ve termal limit iletkenliği gibi önemli parametreleri hesaplamak için kullanır.
Bu yaklaşım, geleneksel temas yöntemlerinin uygun olmadığı durumlarda bile ince filmlerin, kaplamaların ve kaplama malzemelerinin doğru, tekrarlanabilir ve tahribatsız karakterizasyonunu sağlar.
Frekans Alanı Termoreflektansı (FDTR) ile ölçülen değişkenler
TF-LFA L54 ile ince film analizi olanakları:
- Termal iletkenlik (λ) – ince filmin veya çoklu katmanın ısıyı iletme kabiliyetini ölçer.
- Termal difüzivite katsayısı (α) – ısının malzeme boyunca ne kadar hızlı yayıldığını açıklar.
- Hacim ısı kapasitesi (ρ-cp) – birim hacim ve sıcaklık değişimi başına depolanan ısı miktarını gösterir.
- Termal Etkinlik (e) – filmin çevresiyle ne kadar verimli ısı alışverişi yaptığını gösterir.
- Termal sınır iletkenliği (TBC) – katmanlar veya arayüzler arasındaki ısı transfer verimliliğini ölçer.
- Anizotropik iletkenlik – anizotropik malzemelerde düzlem içi ve düzlemler arası ısı transferini birbirinden ayırır.
- Sıcaklığa bağlı davranış – kontrollü atmosferler altında 500 °C’ye kadar özellik değişikliklerinin analizi.
Sorularınız mı var? Sadece bizi arayın!
+49 (0) 9287/880 0
Perşembe’ye kadar sabah 8’den akşam 4’e kadar
ve Cuma günleri sabah 8’den akşam 12’ye kadar hizmet vermektedir.
Sizin için buradayız!
TF-LFA L54 açıklandı - işlev, kullanım ve yetenekler
İnce filmler nedir ve nerelerde kullanılır?
İnce filmler:
İnce filmler, yüzeylere uygulanan nanometreden mikrometreye kadar kalınlığa sahip malzemelerdir.
Kalınlıklarına ve sıcaklıklarına bağlı olarak, termofiziksel özellikleri dökme malzemelerden önemli ölçüde farklılık gösterir. İnce filmler tipik olarak yarı iletkenlerde, LED’lerde, yakıt hücrelerinde ve optik depolama ortamlarında kullanılır.
Farklı ince film türleri
- İnce film: birkaç nm’den µm’ye kadar katman
- Filmler belirli bir alt tabaka üzerinde büyütülür
- Tipik ağda teknikleri şunlardır
- PVD (örn. püskürtme, termal buharlaştırma)
- CVD (PECVD, LPCVD, ALD)
- Damla döküm, spin kaplama ve baskı
- Aşağıdakiler de dahil olmak üzere çeşitli film türleri
- Yarı iletken filmler (örneğin termoelektrik filmler, sensörler, transistörler)
- Metal filmler (kontak olarak kullanılır)
- Isı yalıtım katmanları
- Optik kaplamalar
FDTR'nin TDTR'den farkı nedir?
Gelişmiş FDTR (Frekans-Domain Termoreflektans) sistemimiz, kurulumu optimize ederek ve ölçüm kararlılığını artırarak geleneksel TDTR (Zaman-Domain Termoreflektans) yöntemine göre önemli avantajlar sunar.
Prob lazerini ayarlamaya gerek yok: TDTR düzenlemesinin aksine, numune numuneye göre değiştikçe yansımadaki küçük değişiklikler nedeniyle prob lazerinin ayarlanması gerekir, FDTR sistemimiz bu gereksinimi ortadan kaldırır. Sistemimiz, numunedeki herhangi bir değişikliği hesaba katmak için prob lazerinin odağını sürekli olarak ayarlayan ve manuel müdahale olmadan optimum ölçüm koşullarını sağlayan otomatik bir odaklama özelliğine sahiptir.
Hizalanmış lazerler: FDTR sistemimizdeki mükemmel hizalanmış lazerler sayesinde prob lazer ışınını ayarlamaya gerek kalmaz, bu da daha kolay numune yerleştirme ve daha kararlı ölçümler sağlar.
Daha geniş ölçüm aralığı: Daha geniş ölçüm aralığı ile FDTR, nano darbeli TDTR kurulumlarından bile daha iyi performans gösterir. Daha ince numune katmanları ve daha yüksek termal iletkenliğe sahip ince katmanlar ölçülebilir.
Varsayım gerektirmez: Kapsamlı değerlendirme algoritmamız, ince katmanları herhangi bir varsayım yapmadan ölçmenizi sağlar. Bilmeniz gereken tek şey numune kalınlığıdır.
Avantajlar:
- Daha geniş ölçüm aralığı
- Daha kolay kullanım
- Daha fazla istikrar
- Daha kesin sonuçlar
- İki cihaz arasındaki termal temas direncini ölçme imkanı
- Katmanlar
- ile ilgili hiçbir varsayımda bulunulmamıştır.
- Tinerin ısı kapasitesi ve yoğunluğu
- Örnek filmler
İnce film analizinde çok katmanlı numune nedir?
Çok katmanlı örnek
İnce film (örn. yarı iletken, metal, organik, oksit)
Substratlar (örneğin Si, Si3N4, kuvars cam)
3-omega yöntemi ile termorefleksiyon yöntemi (pompa-prob yöntemi) arasındaki fark nedir?
3-omega yöntemi, bir metal şeridin aynı anda bir ısıtma elemanı ve sıcaklık sensörü olarak hizmet ettiği bir elektrotermal işlemdir. Frekansı ω olan bir akım periyodik ısıtmaya neden olur; 3ω’de ortaya çıkan voltaj bileşeni, bir alt tabaka üzerindeki ince tabakaların veya dökme malzemelerin termal iletkenliğini, difüzivitesini ve özgül ısısını değerlendirmek için kullanılır.
Buna karşılık, termoreflektans/pompa-prob yöntemleri (örneğin zaman alanı termoreflektansı (TDTR) veya frekans alanı termoreflektansı (FDTR)) optiktir ve temassızdır: modüle edilmiş veya darbeli bir pompa lazeri numuneyi ısıtır ve bir prob lazeri, sıcaklık dinamiklerini izlemek ve termal taşıma özelliklerini çıkarmak için yansıtıcılıktaki (termoreflektans) değişiklikleri izler.
Önemli pratik farklılıklar:
- Yüzey kalitesi ve kaplamalar önemlidir: pompa probu teknikleri metal bir transdüser tabakasının (termoreflektans için) uygulanmasını gerektirir ve optik olarak temiz yüzeylerden yararlanır. 3-Omega, numune üzerinde yapılandırılmış metal ısıtma elemanları kullanır.
- Alt tabaka/kaplama etkileşimi: 3-Omega genellikle düzlem içi veya düzlemler arası ölçümler için alt tabaka/film üzerinde bir ısıtıcı kullanır; termoreflektans arayüzlere ve ince filmlere karşı çok hassastır ve çok ince filmlerle çalışır.
- Kullanım: Optik yöntemler temassız ölçümler sağlar ve küçük/ince katmanlar için uygundur; 3-omega yapılandırma ve elektrik bağlantısı gerektirir. Bu nedenle, film kalınlığına, alt tabaka/kaplama tasarımına ve yüzey hazırlığına göre seçim yapın.
Hangi numune türleri hangi teknikle ölçülebilir? (üretim süreci, sıcaklık aralığı, kullanım, substrat, vb.)
Farklı numune türleri için farklı ölçüm prensipleri uygundur:
- 3-omega yöntemi: Alt tabakalar üzerindeki ince filmler (nanometreden mikrometreye kadar film kalınlığı) veya yapılandırılmış ısıtma elemanlarına sahip hacimli alt tabakalar için uygundur. Bir ısıtıcı/sensör elemanının takılabilmesi koşuluyla çoklu biriktirme işlemleri (PVD, CVD, spin kaplama) için çalışır. Özel numune hazırlama ve alt tabaka geometrisi gerektirebilir.
- Termoreflektans (pompa probu / FDTR / TDTR): PVD, CVD, ALD, spin kaplama veya damla döküm gibi teknikler kullanılarak alt tabakalara uygulanan ultra ince katmanlar (10 nm ila birkaç µm) ve çok katmanlı yığınlar için idealdir. Örneğin TF-LFA L54, 10 nm ila ~20 µm arasındaki katmanları destekler. Sıcaklık aralığı: Optik yöntemler için ölçüm sıcaklığı, inert, oksitleyici veya indirgeyici atmosferler altında oda sıcaklığından ~500 °C’ye (cihaza bağlı olarak) kadar değişebilir. Kullanım: Optik yöntemler temiz yüzeyler, transdüser katmanlarının biriktirilmesi ve alt tabaka ile film arasında iyi temas gerektirir. 3-Omega, düzlem içi ölçüm için yapılandırılmış ısıtma elemanları ve bazen asılı membranlar gerektirir.
- Bu nedenle seçim, film kalınlığına, alt tabaka tipine, sıcaklık aralığına ve gerekli ölçüm yönüne bağlıdır.
In-Plane vs Cross-Plane - Hangi teknoloji hangi uygulama için kullanılabilir ve hangisi daha hassastır?
- Düzlem içi ölçüm, bir filmin veya alt tabakanın yüzeyine paralel ısı taşınımını ifade eder.
- Çapraz düzlem ölçümü, film/alt tabaka yüzeyine dik (kalınlık boyunca) ısı taşınımını ifade eder. İnce filmler ve çok katmanlı yapılar için, anizotropi sıklıkla meydana geldiğinden her iki yön de önemlidir. Teknik terimlerle:
- 3-Omega hem düzlem içi hem de düzlemler arası ölçümler için yapılandırılabilir, örneğin asılı bir membran üzerindeki bir ısıtma elemanı düzlem içi veri sağlar; folyo + substrat üzerindeki diferansiyel 3-Omega düzlemler arası veri sağlar.
- Termoreflektans (FDTR / TDTR) genellikle çapraz düzlem yönünde çok hassastır, çünkü yansıma değişiklikleri yüzeye dik sıcaklık dinamiklerini izler; düzlem içi termal iletkenlik için ek konfigürasyonlar veya modifikasyonlar gerekebilir. Bu nedenle:
- Termorefleksiyon yöntemleri özellikle düzlem boyunca doğru termal iletkenlik için etkilidir.
- Düzlem içi ölçümler için 3-Omega iyi bir seçim olmaya devam etmektedir (özellikle yapılandırılmış veya asılı filmler için). Hassasiyet film geometrisine, ölçüm düzeneğine ve sinyal-gürültü oranına bağlıdır – optik yöntemler ince filmler ve arayüzler için çok yüksek bir hassasiyet sunar.
TF-LFA L54'ün fiyatı ne kadar?
TF-LFA L54 sisteminin fiyatı, seçilen konfigürasyona ve sıcaklık aralığı, fırın tipi, soğutma sistemi, otomasyon fonksiyonları veya özel ölçüm modları gibi ek seçeneklere bağlıdır. Her sistem özel uygulama gereksinimlerinize göre özelleştirilebildiğinden, maliyetler önemli ölçüde değişebilir.
Kesin bir fiyat teklifi için lütfen gereksinimlerinizi iletişim formumuz aracılığıyla bize gönderin – size özel bir fiyat teklifi sunmaktan memnuniyet duyarız.
TF-LFA L54 için teslimat süresi ne kadardır?
Bir TF-LFA L54 için teslimat süresi büyük ölçüde seçilen seçeneklere ve yapılandırmaya bağlıdır. Özel fırınlar, genişletilmiş sıcaklık aralıkları, otomasyon veya özelleştirme gibi ek özellikler üretim ve hazırlık süresini artırabilir ve dolayısıyla teslimat süresini uzatabilir.
Bireysel gereksinimlerinize göre doğru bir teslimat süresi tahmini almak için lütfen iletişim formumuz aracılığıyla bizimle iletişime geçin.
Yazılım
Değerleri görünür ve karşılaştırılabilir kılmak
Genel yazılım
Tüm LINSEIS termal analizörleri tamamen PC kontrollüdür ve Microsoft® Windows® ortamları altında çalışır.
Yazılım paketi sıcaklık kontrolü, veri toplama ve veri analizi olmak üzere üç sezgisel modüle ayrılmıştır ve kurulumdan son analize kadar sorunsuz bir süreç sağlar.
LINSEIS yazılımı, uygulama uzmanlarımızla işbirliği içinde geliştirilmiştir ve verimli günlük çalışma için kullanıcı dostu, veri güvenliği ve kapsamlı işlevselliği bir araya getirmektedir.
En önemli işlevler şunlardır
- MS® Windows™ ile tam uyumluluk
- Elektrik kesintisi durumunda otomatik veri koruması
- Devam eden ölçümlerin gerçek zamanlı değerlendirilmesi
- Eğri karşılaştırması ve çeşitli veri setlerinin üst üste bindirilmesi
- Verilerin ASCII veya Excel formatında depolanması, dışa ve içe aktarılması
Analiz ve ölçüm yazılımı
Değerlendirme yazılımı, ince filmlerin ve çok katmanlı sistemlerin ayrıntılı termal analizi için gelişmiş araçlar sunar.
Çok katmanlı bir ısı taşıma modeli kullanarak , termal iletkenliği, difüziviteyi, efüziviteyi ve hacimsel ısı kapasitesini eşzamanlı olarak belirler ve ayrıca her deney için temas direncinin belirlenmesini, hassasiyet görselleştirmesini ve fizibilite testlerini sağlar.
Ölçüm yazılımı, tüm ölçüm parametrelerinin basit, kullanıcı dostu girişi ile tam otomatik çalışma sağlar.
Test kurulumundan termal özelliklerin tam olarak belirlenmesine kadar hassas sıcaklık kontrolü, tekrarlanabilir sonuçlar ve optimize edilmiş bir iş akışını garanti eder.
LINSEIS Termal Kütüphane
LINSEIS Termal Kütüphane yazılım paketi, neredeyse tüm cihazlarımıza entegre edilmiş olan iyi bilinen, kullanıcı dostu LINSEIS Platinum değerlendirme yazılımı için bir seçenektir. Termal Kütüphane ile, eğrilerin tamamını binlerce referans ve standart malzeme içeren bir veritabanı ile sadece 1-2 saniye içinde karşılaştırabilirsiniz.
Çoklu enstrüman
Tüm LINSEIS cihazları DSC, DIL, STA, HFM, LFA vb. bir yazılım şablonu aracılığıyla kontrol edilebilir.
Çok dilli
Yazılımımız, kullanıcı tarafından değiştirilebilen birçok farklı dilde mevcuttur: İngilizce, İspanyolca, Fransızca, Almanca, Çince, Korece, Japonca, vb.
Rapor oluşturucu
Özelleştirilmiş ölçüm raporları oluşturmak için uygun şablon seçimi.
Birden fazla kullanıcı
Yönetici, cihazı çalıştırmak için farklı haklara sahip farklı kullanıcı seviyeleri ayarlayabilir. Bir günlük dosyası da seçenek olarak mevcuttur.
Kinetik yazılım
Hammaddelerin ve ürünlerin termal davranışlarını araştırmak için DSC, DTA, TGA ve EGA verilerinin kinetik analizi (TG-MS, TG-FTIR).
Veritabanı
Son teknoloji ürünü veri tabanı, 1000’e kadar veri kaydıyla basit veri yönetimi sağlar.
Uygulamalar
İnce filmler
Yarı iletkenler, LED’ler, yakıt hücreleri veya optik depolama ortamları gibi modern ince film sistemlerinde ısı taşıma özellikleri yığın malzemelerden önemli ölçüde farklıdır.
Azaltılmış termal iletkenlik genellikle arayüzey saçılması, safsızlıklar, tane sınırları veya kalınlığa bağlı davranış gibi etkilerden kaynaklanır.
LINSEIS TF-LFA L54, frekans alanlı termoreflektans teknolojisini (FDTR) kullanır ve birkaç nanometreden birkaç mikrometreye kadar ince filmlerin ve çok katmanlı yapıların temassız, yüksek hassasiyetli termal analizini sağlar.
Termal iletkenlik, difüzivite, efüzivite, hacimsel ısı kapasitesi ve termal limit iletkenliği gibi önemli parametreleri belirler ve ısı taşınımı, katman arayüzleri ve malzeme performansı hakkında önemli bilgiler sağlar.
Optik hassasiyeti ve gelişmiş veri değerlendirme modelleriyle TF-LFA L54, ince film geliştirmede araştırma ve kalite kontrol için ideal bir cihazdır ve yeni nesil malzeme ve cihazlarda optimum termal yönetim sağlar.
Uygulama örneği: CVD elmas – termal iletkenlik
Yüksek iletkenliğe sahip elmas numuneler, termal davranışı karakterize etmek ve verimli ısı dağılımının kritik olduğu uygulamalarda kalite kontrolü sağlamak için frekans alanı termoreflektans tekniğini kullanan Linseis Lazer Frekans Analizörü (TF-LFA L54) ile ölçülebilir. Doğru termal iletkenlik ölçümleri, tane boyutu, saflık ve kalınlık gibi faktörler taşıma özelliklerini etkileyebileceğinden, elmas numunelerin kalitesini ve performansını doğrulamak için gereklidir.
CVD elmasın termal özelliklerinin ölçümü. X ekseni Hertz cinsinden logaritmik olarak ölçeklendirilmiş frekansı gösterirken, y ekseni pompa lazeri ve prob lazeri tarafından uyarılma arasındaki faz kaymasını gösterir. Burada λ termal iletkenlik, α termal iletkenlik, e termal etkinlik ve TBC dönüştürücü katman (altın) ile numune (elmas) arasındaki termal sınır iletkenliğidir. Bir malzeme kombinasyonunun birbiriyle ne kadar iyi ısı alışverişi yapabildiğini belirler.
Frekans alanı termoreflektansı (FDTR), CVD elmas gibi malzemelerde, özellikle yüksek uzaysal çözünürlüğün gerekli olduğu ince filmlerde ve mikro ölçekli örneklerde termal iletkenliği ölçmek için tercih edilen bir yöntemdir. Linseis Lazer Frekans Analiz Cihazı (TF-LFA) bu amaç için ideal bir araçtır. FDTR, numunede lokalize ısıtmayı indüklemek için modüle edilmiş bir lazer kullanır ve malzemenin termoreflektif tepkisini ölçer
farklı modülasyon frekanslarında. Araştırmacılar bu tekniği kullanarak elmastan ve ara yüzeylerinden geçen ısı akışını modelleyerek termal iletkenliği belirleyebilirler.
Uygulama örneği: SiO2 ince film 504 nm
Saf silikon dioksitten (kuvars) oluşan ince cam tabakalar, yarı iletken ve elektronik endüstrisinde genellikle koruyucu bir tabaka veya termal veya elektronik yalıtım tabakası olarak kullanılır. Bu örnekte, termal özelliklerini tam olarak karakterize etmek için Linseis’in TF-LFA cihazı ile bir SiO2 tabakası incelenmiştir.
Uygulama örneği: Alüminyum nitrür AIN
AlN genellikle sensörlerde veya mikroelektronikte ısı yalıtım katmanı veya elektronik yalıtım katmanı olarak kullanılır. Bu uygulamada, katman kalınlığının bir fonksiyonu olarak termal özellikleri TF-LFA kullanılarak incelenmiştir.
İyi bilgilendirilmiş
