Productos Linseis para Termoeléctricos
Seebeck-Coefficient / Resistivity / TEG y Peltier Modules / Thin Films
Termoelectrica
Recuperación de residuos térmicos / Generadores termoeléctricos (TEG) / Peltier-Elements / Sensorics
La termoelectricidad describe la influencia mutua de la temperatura y la electricidad en un material y se basa en tres efectos básicos: el efecto Seebeck, el efecto Peltier y el efecto Thomson. El efecto Seebeck fue descubierto en 1821 por Thomas J. Seebeck, un físico alemán, y describe la ocurrencia de un campo eléctrico cuando se aplica un gradiente de temperatura en un conductor aislado eléctricamente. El coeficiente de Seebeck S se define como el cociente de la tensión térmica negativa y la diferencia de temperatura y es una variable puramente específica del material, que generalmente se da en la unidad μV / K.
A la inversa, este efecto, llamado efecto Peltier, provoca un gradiente de temperatura cuando se aplica una corriente externa al conductor. Este fenómeno se debe a los diferentes niveles de energía de las bandas de conducción de los materiales involucrados. Por lo tanto, a medida que pasan de un material a otro, los portadores de carga deben absorber energía en forma de calor, enfriando así la almohadilla, o pueden liberar energía en forma de calor, calentando así la almohadilla.
Con los combustibles fósiles cada vez más escasos y el reciente calentamiento global se debe al aumento de las emisiones de dióxido de carbono, el campo de la termoelectricidad ha vuelto al interés público debido a su uso efectivo del calor residual. El objetivo es utilizar el calor residual de los motores térmicos, como los automóviles o las centrales eléctricas convencionales, mediante generadores termoeléctricos (TEG) para aumentar su eficiencia de conversión. Pero también para aplicaciones de refrigeración por medio del efecto Peltier, como los componentes termostáticos de temperatura crítica en los láseres, los materiales termoeléctricos eficientes son de gran interés.
La eficiencia de conversión termoeléctrica de un material generalmente se compara sobre la base de la figura de mérito adimensional.ZT.Se calcula a partir de la TConductividad Hermal, laCoeficiente de Seebecky la EConductividad lectica.
Para hacer frente a este desarrollo, hemos desarrollado un instrumento para la caracterización simple y extremadamente precisa del material. El Linseis LSR-3 puede determinar el coeficiente de Seebeck y la resistividad eléctrica de una muestra en un rango de temperatura de -100 ° C a + 1500 ° C en una sola medición.
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Resumen de aplicaciones y muestras
A continuación encontrará un resumen de los distintos instrumentos de medición para la termoelectricidad. Esto debería servirle de orientación. Si tiene alguna duda sobre una medida o un material, siempre puede enviarnos un mensaje a través del formulario de contacto.
Verde: Medición posible
Amarillo: Medición posiblemente posible
Gris: Medición no posible
| Modelo | LSR-3 | LSR-4 | LZT | HCS | TFA |
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| Información | Plataforma estándar | Actualización de Harman para el LSR-3 | Combinación de LSR-3 + LFA 1000 | adicionalmente con la constante Hall | Películas finas en el chip de Linsei |
| Medidas | |||||
| Coeficiente Seebeck | |
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| Resistividad/Conductividad | |
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| Constante Hall / movilidad Hall / portador de carga | |
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| Difusividad térmica | |
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| Conductividad térmica | |
*Hinweis beachten |
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| Caracterización completa de ZT | |
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| Atmósfera | |
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| Rango de temperatura | -100 a +1500°C | -100 a +1500 (Harman -100 a 300) | -100 a +1100 | -150 a +600 | -170 a +300°C |
| Precio | $$ | $$ | $$$ | $ | $$$ |
| Muestras | |||||
| fijo | |
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| Películas finas | |
**Hinweis beachten |
***Hinweis beachten |
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* Conductividad térmica calculada a partir del método Harman para la medición directa de ZT. El método de Harman sólo es aplicable a las buenas muestras termoeléctricas de -100°C a +300°C.
** Se puede medir el Seebeck y la resistividad de las películas delgadas, pero el método de Harman sólo es aplicable a los sólidos, no a las películas delgadas.
*** Se puede medir el Seebeck y la resistividad de las películas delgadas, pero el método LFA sólo es aplicable a los sólidos y a las películas más gruesas (> 100 µm).
