설명
요점
고체, 분말, 페이스트 및 액체의 열 길이 변화를 측정하는 고정밀 팽창도계입니다.
고진공 밀폐 설계 덕분에 진공 상태는 물론 산화 및 환원 분위기에서도 측정이 가능합니다.
이 시스템에는 고해상도 유도 변위 트랜스듀서가 있어 최고의 정확성, 재현성 및 장기적인 안정성을 보장합니다.
완전한 온도 조절 기능으로 장시간 연속 측정 시에도 장치가 안정적으로 유지됩니다.
자동 압력 제어를 통해 용도에 따라 접촉 압력을 정밀하고 지속적으로 설정할 수 있습니다.
DIL L75 Horizontal은 글로브박스에서 사용하도록 선택적으로 구성할 수 있습니다.
다음과 같은 물리적 속성을 측정할 수 있습니다:
극저온 옵션인 DIL L75 Vertical은 -263°C ~ +220°C의 온도에서 측정이 가능하고 다양한 시료 홀더, 진공 작동 및 제어된 분위기를 제공하며 최고의 정확성과 간편한 취급을 보장합니다.
															고유 기능
						고진공 밀폐형 푸시 로드 팽창계
진공 및 제어된 산화 또는 환원 분위기에서의 측정
고해상도 유도 변위 변환기 및 온도 조절 기능으로 정확성과 재현성 극대화
10~1000mN의 연속 접촉 압력에 대한 자동 압력 제어
'글로브박스'에서 사용하기 위한 기계 및 전기 부품의 선택적 분리
마찰이 없는 '제로 마찰' 디자인으로 소결 연구 및 ULE 소재에 이상적
추가 오븐을 위한 턴테이블 옵션이 있는 컴팩트한 디자인
263°C ~ +220°C의 온도에서 측정할 수 있는 극저온 옵션
질문이 있으신가요? 전화로 문의하세요!
+49 (0) 9287/880 0
서비스 이용 가능 시간은 월요일부터 목요일 오전 8시부터 오후 4시까지, 금요일 오전 8시부터 오후 12시까지입니다.
저희가 도와드리겠습니다!
사양
흰색에 검은색
MODEL | DIL L75 Horizontal* | 
|---|---|
| Temperature range: | -180 up to 2800°C | 
| LVDT | |
| Delta L resolution: | 0,03 nm | 
| Measuring range: | +/- 2500 µm | 
| Contact force: | 10 mN up to 1 N | 
| Optical Encoder | |
| Delta L resolution: | 0,1 nm | 
| Measuring range: | +/- 25000 µm | 
| Automatic sample length detection: | yes | 
| Force modulation: | yes | 
| Contact force: | 10 mN up to 5N | 
| Multiple furnace configuration: | up to 2 furnaces | 
| Motorized furnace operation: | optional | 
| Gas dosing: | manual gas dosing or mass flow controller 1,3 or more gases | 
| Contact force adjustment: | included | 
| Single/double dilatometer: | optional | 
| Softening point detection: | included | 
| Density determination: | included | 
| L-DTA: | optional (up to 2000°C) | 
| Rate controlled sintering (RCS): | included | 
| Thermal library: | included | 
| Electric thermostatization of measuring head: | included | 
| Low temperature options: | LN2, Intracooler | 
| Vacuum tight design: | yes | 
| Automatic evacuation system: | optional | 
| OGS oxygen getter system: | optional | 
| *Specs depend on configurations | |
오븐 프로그램
DIL L75 수평
TEMPERATURE | TYPE | HEATING ELEMENT | ATMOSPHERE | TEMPERATURE SENSOR | 
|---|---|---|---|---|
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K | 
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K | 
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K | 
| RT – 1000°C | L75/220 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type K | 
| RT – 1400°C | L75/230 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type S | 
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Type S | 
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Type S | 
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphite | N2/Vac. | Type C and/oder Pyrometer | 
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer | 
액세서리
															- 샘플 준비용 장치
 - 다양한 샘플 홀더(크기, 재질)
 - 샘플 길이의 수동 또는 온라인 입력을 위한 캘리퍼스
 - 최대 3개의 오븐용 턴테이블
 - 다양한 가스 박스: 수동, 반자동 및 MFC 제어식
 - 소프트웨어 옵션 속도 제어 소결(RCS)
 - 다양한 로터리 및 터보 분자 펌프
 - 100% H2에서 작동 가능성
 - LN2 냉각
 
소프트웨어
값을 가시화하고 비교 가능하게 만들기
															- 유리 전이 및 연화점 측정
 - 자동 연화 포인트 스위치 오프, 자유롭게 조정 가능(시스템 보호)
 - 절대적 또는 상대적 수축 또는 팽창 표시
 - 기술적/물리적 팽창 계수의 시각화 및 계산
 - 속도 제어 소결(소프트웨어 옵션)
 - 소결 공정 평가
 - 밀도 결정
 - 자동 평가 루틴
 - 시스템 보정(온도, 제로 커브 등)
 - 자동 영점 조정
 - 자동 펀치 접촉 압력 제어
 
- 실시간 컬러 디스플레이
 - 자동 및 수동 스케일링
 - 자유롭게 선택할 수 있는 축의 표시(예: 온도 델타 L(y축) 대비 온도(x축))
 - 수학적 계산(예: 일차 및 이차 미분)
 - 전체 분석 저장
 - 멀티태스킹 기능
 - 다중 사용자 기능
 - 다양한 커브 섹션을 위한 확대/축소 옵션
 - 비교를 위해 여러 개의 커브를 서로 겹쳐서 로드할 수 있습니다.
 - 온라인 도움말 메뉴
 - 무료 라벨링
 - 측정 데이터의 EXCEL® 및 ASCII 내보내기
 - 데이터 평활화
 - 제로 커브 오프셋
 - 커서 기능
 - 통계 곡선 평가(신뢰 구간이 있는 평균값 곡선)
 - 데이터 및 확장 계수의 표 형식 출력
 - 알파 물리, 알파 기술, 상대 팽창 L/L0 계산
 - 곡선 산술, 덧셈, 뺄셈, 곱셈
 
애플리케이션 (Application)
적용 사례: 유리 세라믹
팽창 측정법은 유리 세라믹의 열팽창 계수(CTE)와 연화점을 측정하는 데 탁월한 방법입니다. 절대 팽창, 상대 팽창 및 열팽창 계수(CTE) 외에도 절대 팽창의 첫 번째 미분도 온도에 대해 계산할 수 있습니다. 미분의 O-통로는 열팽창의 최대치이므로 재료의 연화점을 정확하게 계산할 수 있습니다.
															
															적용 예: 석영 샘플을 사용한 DTA 측정
DIL L75 팽창계와 DTA 평가 애드온을 사용하면 결정질(SiO2) 시료에서 온도 보정을 동시에 수행한 DTA 측정을 수행할 수 있습니다. 시료의 선형 가열 단계 동안 흡열 및 발열 반응에 의해 제어 동작이 변경되고 소프트웨어 프로그램에 의해 보정됩니다. 이러한 변화로부터 DTA 곡선이 생성됩니다. 문헌에 따르면 이러한 변화는 SiO2의 경우 574°C에서 일어나기 때문에 DTA 피크를 사용하여 보정을 확인할 수 있습니다.
															충분한 정보 제공