熱伝導率、熱拡散率、比熱容量を測定するには、分析する材料、測定温度、要求される精度によって様々な方法があります。

熱拡散率を測定する最も一般的な方法は、レーザー法またはライトフラッシュ法（LFA）です。光・レーザーフラッシュ法は、非常に広い温度範囲（-125～2800℃）とほぼ全熱伝導率範囲で使用できます。

THB 過渡ホットブリッジ（THB）法は、PTB（Physikalisch-Technische Bundesanstalt）により最適化されたヒーティングワイヤー法で、熱伝導率、
熱拡散率、比熱容量を1分以内に測定することができます。熱伝導率の測定範囲は、断熱材からセラミック、金属まで多岐にわたります。

ヒートフローメーター（HFM）は、主に断熱材の品質管理に使用される古典的なプレート装置です。HFMは可能な限り高い精度で熱伝導率を測定することができます。

薄膜サンプル（nmからμmスケール）のために、LINSEISは新しい薄膜レーザーフラッシュ（TF-LFA）とユニバーサルチップベースの薄膜アナライザーを開発しました。 TFA (薄膜アナライザー) を開発しました。

熱伝導率、熱拡散率、比熱容量を測定するには、分析する材料、測定温度、要求される精度によって様々な方法があります。

熱拡散率を測定する最も一般的な方法は、レーザー法またはライトフラッシュ法（LFA）です。光・レーザーフラッシュ法は、非常に広い温度範囲（-125～2800℃）とほぼ全熱伝導率範囲で使用できます。

トランジェントホットブリッジ法（THB）は、PTB（Physikalisch-Technische Bundesanstalt：物理工学技術研究所）によって最適化されたヒーティングワイヤー法で、熱伝導率、
熱拡散率、比熱容量を1分以内に測定することができます。熱伝導率の測定範囲は、断熱材からセラミック、金属まで多岐にわたります。

ヒートフローメーター（HFM）は、主に断熱材の品質管理に使用される古典的なプレート装置です。HFMは可能な限り高い精度で熱伝導率を測定することができます。

LINSEISは新しい薄膜レーザーフラッシュ(TF-LFA)と薄膜サンプル(nmからμmスケール)用のユニバーサルチップベースの薄膜分析装置TFA(Thin Film Analyzer)を開発しました。