概要
要点
リンザイスDIL L75 PT水平型とDIL L75 Vは固体、液体、粉体、ペーストの熱長変化を測定する高精度のダイラトメーターです。
DIL L75 PT水平型は、真空密閉設計で、真空下だけでなく、酸化雰囲気や還元雰囲気での測定も可能です。
DIL L75 Vは、摩擦のない「ゼロフリクション」設計が特徴で、特に焼結研究や膨張の極めて小さい材料に適しています。
どちらのシステムも高分解能の誘導型変位計を搭載しており、最高の精度、再現性、長期安定性を保証します。
包括的なサーモスタット化と、グローブボックス内での使用のためのオプション適応により、幅広いアプリケーションに使用できます。
さらに、両モデルとも自動圧力制御を備えており、アプリケーションに応じて接触圧力を無段階に変化させることができ、測定中は圧力を一定に保つことができます。
以下の物性を測定することができる：
DIL L75 Vの極低温オプションは、-263℃から+220℃までの温度での測定を可能にし、様々なサンプルホルダー、真空操作、制御された雰囲気を提供し、最高の精度と容易な取り扱いを保証します。
ユニークな特徴
高真空密閉プッシュロッド式ダイラトメーター
真空および制御された酸化・還元雰囲気下での測定
高分解能の誘導型変位変換器とサーモスタット化により、最高の精度と再現性を実現
10～1000mNの連続接触圧の自動圧力制御
グローブボックス "で使用するための機械部品と電気部品の分離（オプション
摩擦のない「ゼロフリクション」設計、焼結試験やULE材料に最適
コンパクトなデザインで、オプションでオーブンを追加できるターンテーブル付き
263°Cから220°Cまでの低温測定用オプション
サービスホットライン
+49 (0) 9287/880 0
月曜日から木曜日は午前8時から午後4時まで、金曜日は午前8時から午後12時までご利用いただけます。
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仕様
基本情報
MODEL | DIL L75 Horizontal* |
|---|---|
| Temperature range: | -180 up to 2800°C |
| LVDT | |
| Delta L resolution: | 0,03 nm |
| Measuring range: | +/- 2500 µm |
| Contact force: | 10 mN up to 1 N |
| Optical Encoder | |
| Delta L resolution: | 0,1 nm |
| Measuring range: | +/- 25000 µm |
| Automatic sample length detection: | yes |
| Force modulation: | yes |
| Contact force: | 10 mN up to 5N |
| Multiple furnace configuration: | up to 2 furnaces |
| Motorized furnace operation: | optional |
| Gas dosing: | manual gas dosing or mass flow controller 1,3 or more gases |
| Contact force adjustment: | included |
| Single/double dilatometer: | optional |
| Softening point detection: | included |
| Density determination: | included |
| L-DTA: | optional (up to 2000°C) |
| Rate controlled sintering (RCS): | included |
| Thermal library: | included |
| Electric thermostatization of measuring head: | included |
| Low temperature options: | LN2, Intracooler |
| Vacuum tight design: | yes |
| Automatic evacuation system: | optional |
| OGS oxygen getter system: | optional |
| *Specs depend on configurations | |
MODEL | DIL L75 Vertical* |
|---|---|
| Temperature range: | -263 up to 2800°C |
| LVDT | |
| Delta L resolution: | 0,03 nm |
| Measuring range: | +/- 2500 µm |
| Contact force: | 10 mN up to 1 N |
| Optical Encoder | |
| Delta L resolution: | 0,1 nm |
| Measuring range: | +/- 25000 µm |
| Automatic sample length detection: | yes |
| Force modulation: | yes |
| Contact force: | 10 mN up to 5N |
| Multiple furnace configuration: | up to 3 furnaces |
| Motorized furnace operation: | optional |
| Gas dosing: | manual gas dosing or mass flow controller 1,3 or more gases |
| Contact force adjustment: | included |
| Single/double dilatometer: | optional |
| Softening point detection: | included |
| Density determination: | included |
| L-DTA: | optional (up to 2000°C) |
| Rate controlled sintering (RCS): | included |
| Thermal library: | included |
| Electric thermostatization of measuring head: | included |
| Low temperature options: | LN2, Intracooler |
| Vacuum tight design: | yes |
| Automatic evacuation system: | optional |
| OGS oxygen getter system: | optional |
| *Specs depend on configurations | |
オーブンプログラム
DIL L75 PT 横型
TEMPERATURE | TYPE | HEATING ELEMENT | ATMOSPHERE | TEMPERATURE SENSOR |
|---|---|---|---|---|
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1000°C | L75/220 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1400°C | L75/230 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Type S |
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphite | N2/Vac. | Type C and/oder Pyrometer |
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer |
DIL L75 PT バーティカル
TEMPERATURE | TYPE | HEATING ELEMENT | ATMOSPHERE | TEMPERATURE SENSOR |
|---|---|---|---|---|
| -263°C – 300°C | L75/264 He | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Semiconductor / Pt 100 |
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1000°C | L75/220 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1400°C | L75/230 | SiC, Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Type S |
| RT – 1750°C | L75/240 M | MoSi2 | inert, oxid., red., vac. | Type B |
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphite | N2/Vac. | Type C and/oder Pyrometer |
| RT – 2400°C | L75/270 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer |
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphite | N2/Vac. | Pyrometer |
アクセサリー
- サンプル前処理装置
- 各種サンプルホルダー（サイズ、材質）
- 試料長を手動またはオンラインで入力するノギス
- 最大3台のオーブンに対応するターンテーブル
- 各種ガスボックス：手動、半自動、MFC制御
- ソフトウェアオプション RCS (Rate Controlled Sintering)
- 各種ロータリーポンプ、ターボ分子ポンプ
- 100%H2下での運転の可能性
- LN2冷却
ソフトウェア
価値を可視化し、比較可能にする
Microsoft® Windows®をベースとした強力なLINSEIS熱分析ソフトウェアは、使用するハードウェアに加えて、熱分析実験の準備、実行、評価において最も重要な機能を果たします。 このソフトウェアパッケージにより、リンゼイは全ての装置固有の設定と制御機能のプログラミング、データの保存と評価のための包括的なソリューションを提供します。このパッケージは社内のソフトウェアスペシャリストとアプリケーションの専門家によって開発され、長年にわたり試用されてきました。
ディラトメーターの機能
- ガラス転移点と軟化点の決定
- 自動ソフトニングポイントスイッチオフ、自由に調整可能（システム保護）
- 絶対的または相対的な収縮または膨張の表示
- 技術的/物理的膨張係数の可視化と計算
- 速度制御焼結（ソフトウェアオプション）
- 焼結プロセス評価
- 密度の決定
- 自動評価ルーチン
- システム補正（温度、ゼロカーブなど）
- 自動ゼロ点調整
- 自動パンチ接点圧力制御
一般的な機能
- リアルタイムカラーディスプレイ
- 自動および手動スケーリング
- 自由に選択可能な軸の表示（例：温度 デルタL（Y軸）に対する温度（X軸）など)
- 数学的計算（一次導関数、二次導関数など）
- 完全な分析の保存
- マルチタスク機能
- マルチユーザー機能
- 様々なカーブセクションのズームオプション
- 比較のために、任意の数のカーブを重ねて読み込むことができる。
- オンラインヘルプメニュー
- 無料ラベリング
- 測定データのEXCEL®およびASCIIエクスポート
- データの平滑化
- ゼロカーブはオフセットされる
- カーソル機能
- 統計的曲線評価（信頼区間を含む平均値曲線）
- データと膨張係数の表形式プリントアウト
- アルファ・フィジックス、アルファ・テック、相対膨張L/L0の計算
- 曲線演算、加算、減算、乗算
アプリケーション
用途例：ガラスセラミック
ディラトメトリーは、ガラスセラミックスの熱膨張係数 (CTE) と軟化点を測定するための優れた方法です。絶対膨張、相対膨張、熱膨張係数 (CTE) に加えて、絶対膨張の一次微分も温度に対して計算できます。微分のO-通過点は熱膨張の最大値であるため、材料の軟化点を正確に計算することができます。
応用例: セラミックス/粉末冶金ハイテクセラミックスの製造プロセスにおいて、 焼結プロセスをシミュレートできることは、 大きな関心事です。オプションのRCS(rate controlled sintering)ソフトウェアパッケージを使用すると、PALMOUR IIIのモデル理論に従って、ディラトメーターで焼結プロセスを制御することができます。このアプリケーションでは、加熱速度が密度の関数として制御されるため、ZrO2の焼結プロセスは、最終密度100％が達成されるように制御されます。
応用例：石英試料を用いたDTA測定
L75ディラトメーターとDTA評価アドオンを使用すると、結晶（SiO2）試料のDTA測定を温度校正と同時に行うことができます。試料の直線加熱段階において、吸熱反応と発熱反応によって制御挙動が変化し、ソフトウェアプログラムによって補正されます。これらの変化からDTA曲線が生成されます。文献によると、この変化はSiO2の場合574℃で起こるため、DTAピークを用いて校正をチェックすることができます。
十分な情報
