熱伝導率、温度伝導率、および比熱容量を測定するには、分析対象の材料、測定温度、および求められる精度に応じて、さまざまな方法があります。

熱拡散率を測定する最も一般的な方法は、レーザーまたは光フラッシュ（LFA）法です。光およびレーザーフラッシュ法は、非常に広い温度範囲（-100～2800℃）とほぼ全熱伝導率範囲で使用できます。

トランジェント・ホット・ブリッジ法（THB） は、ドイツ連邦物理技術研究所（PTB）によって最適化された加熱ワイヤ法であり、1分未満で熱伝導率、
温度伝導率、および比熱容量を測定することができます。 熱伝導率の測定範囲は、断熱材からセラミックス、金属に至るまで多岐にわたります。

ヒートフローメーター（HFM）は、主に断熱材の品質管理に使用される、従来のプレート式測定装置です。HFMを使用すれば、熱伝導率を最高精度で測定することができます。

薄膜試料（nm～μmスケール）向けに、LINSEISは新型の薄膜レーザーフラッシュ（TF-LFA）および汎用チップ型薄膜分析装置 TFA（Thin Film Analyzer） を開発しました。

熱伝導率、温度伝導率、および比熱容量を測定するには、分析対象の材料、測定温度、および求められる精度に応じて、さまざまな方法があります。

熱伝導率を測定する最も一般的な方法は、レーザーフラッシュ法（LFA）またはライトフラッシュ法です。 ライトフラッシュ法およびレーザーフラッシュ法は、非常に広い温度範囲（-100～2800°C）およびほぼすべての熱伝導率範囲において適用可能です。

トランジェント・ホット・ブリッジ法（THB）は、ドイツ連邦物理技術研究所（PTB）によって最適化された加熱ワイヤ法であり、1分以内に熱伝導率、
温度伝導率、および比熱容量を測定することができます。 熱伝導率の測定範囲は、断熱材からセラミックス、金属に至るまで多岐にわたります。

ヒートフローメーター（HFM）は、主に断熱材の品質管理に使用される、従来のプレート式測定装置です。HFMを使用すれば、熱伝導率を最高精度で測定することができます。

薄膜試料（nm～μmスケール）向けに、LINSEIS社は新しい薄膜レーザーフラッシュ（TF-LFA）および汎用チップ型薄膜分析装置TFA（Thin Film Analyzer）を開発しました。