Linseis Messgeräte GmbHの新型LSR-1により、センサやペルチエ素子で使用されるような熱電材料を、固体材料や薄膜の形で簡単かつ便利に特性評価することができます。基本バージョンである新型 LSR-1 では、ゼーベック係数と電気抵抗率の両方を、-160°C から 200°C の範囲で完全自動かつ同時に測定できます。基本バージョンにガス検出器を追加することができます。基本バージョンには、ガス注入システム、サンプル照明、クライオオオプションを追加できます。
この新しい LSR-1 システムでは、よく知られたファンデルパウ法（抵抗率）に基づく金属および半導体サンプルの特性評価だけでなく、勾配掃引と線形回帰によるゼーベック係数の評価も可能です。
新型LSR-1で測定できる薄膜は、半導体技術、液晶ディスプレイ（LCD）の製造、太陽電池モジュール、センサーの製造、医療技術など、ナノテクノロジーの多くの用途で見られる。
