열전도율
열 전도도 및 열 확산도 측정을 위한 측정 장치
린세이의 열 전도성 시리즈
열전도율, 온도전도율 및 비열용량을 측정하기 위해서는 분석 대상 물질, 측정 온도 및 요구되는 정확도에 따라 다양한 방법이 있습니다.
열확산율을 측정하는 가장 일반적인 방법은 레이저 또는 광섬광(LFA) 방법입니다. 광섬광 및 레이저 섬광 방법은 매우 넓은 온도 범위(-100~2800°C)와 거의 전체 열전도율 범위에 걸쳐 사용할 수 있습니다 .
다음과 같은 과도 열교(THB) 방법 는 독일 연방 물리기술연구소(PTB)에서 최적화한 가열 와이어 측정법으로, 1분 이내에 열전도도,
온도전도도 및 비열용량을 측정할 수 있습니다. 열전도도 측정 범위는 절연 재료부터 세라믹 및 금속에 이르기까지 다양합니다.
열유량계(HFM) 는 주로 단열재의 품질 관리에 사용되는 전통적인 판형 장치입니다. HFM을 사용하면 열전도율을 최대한 정확하게 측정할 수 있습니다.
박막 시료 (nm~μm 규모)를 위해 LINSEIS는 새로운 박막 레이저 플래시(TF-LFA)와 범용 칩 기반 박막 분석기 TFA(Thin Film Analyzer) 를 개발했습니다.
열전도율, 온도전도율 및 비열용량을 측정하기 위해서는 분석 대상 물질, 측정 온도 및 요구되는 정확도에 따라 다양한 방법이 있습니다.
열전도도를 측정하는 가장 일반적인 방법은 레이저 또는 라이트 플래시법(LFA)입니다. 라이트 플래시 및 레이저 플래시 방법은 매우 넓은 온도 범위(-100~2800°C)와 거의 모든 열전도도 범위에서 적용될 수 있습니다.
과도 핫 브리지법(THB)은 독일 연방물리기술연구소(PTB)에서 최적화한 가열선 측정법으로, 1분 이내에 열전도도,
온도전도도 및 비열용량을 측정할 수 있습니다. 열전도도 측정 범위는 절연재부터 세라믹 및 금속에 이르기까지 다양합니다.
열유량계(HFM)는 주로 단열재의 품질 관리에 사용되는 전통적인 판형 측정기입니다. HFM을 사용하면 열전도율을 최대한 정확하게 측정할 수 있습니다.
박막 시료(nm~μm 규모)를 위해 LINSEIS는 새로운 박막 레이저 플래시(TF-LFA)와 범용 칩 기반 박막 분석기 TFA(Thin Film Analyzer)를 개발했습니다.
애플리케이션 및 샘플 개요
측정 가능
측정 가능 여부
측정 불가
GERÄT | LFA L51/L52 | TIM-TESTER TIM L58 | THB L56 | HFM L57 | TFA L59 | TF-LFA L54 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Info | Universellstes Messgerät | Für Thermal Interface Materials | Schnelle und einfache Messungen | Für isolierende Materialien | Dünnschichten auf Linseis-Chip | Dünnschichten von nm bis μm |
| Messungen | ||||||
| Wärmeleitfähigkeit | ||||||
| Temperaturleitfähigkeit | ||||||
| Spez. Wärmekapazität | ||||||
| Spez. Wärmewiderstand | ||||||
| Bestimmter Druck auf die Probe | ||||||
| Definierte Atmosphären | ||||||
| Temperaturbereich | -100°C bis +2800°C | -20°C bis +300°C | -150°C bis +700°C | -40°C bis +90°C | -170°C bis +300°C | -100°C bis +500°C |
| Preis | €€ – €€€ | €€ | € | €€ | €€€ | €€€ |
| Proben | ||||||
| Fest | ||||||
| Flüssig | ||||||
| Pulver | ||||||
| Paste | ||||||
| Pad | ||||||
| Dünnschichten |
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