설명
요점
Linseis DIL L75 PT Horizontal과 DIL L75 V는 고체, 액체, 분말 및 페이스트의 열 길이 변화를 측정하기 위한 고정밀 팽창도계입니다.
DIL L75 PT Horizontal은 진공 상태뿐만 아니라 산화 및 환원 분위기에서도 측정할 수 있는 고도의 진공 밀폐형 설계를 제공합니다.
DIL L75 V는 마찰이 없는 “제로 마찰” 설계가 특징이며, 특히 소결 연구 및 팽창이 극히 낮은 재료에 적합합니다.
두 시스템 모두 고해상도 유도 변위 트랜스듀서를 탑재하여 최고의 정확도, 재현성 및 장기적인 안정성을 보장합니다.
포괄적인 온도 조절 기능과 글러브박스에 사용할 수 있는 옵션 덕분에 다양한 용도로 사용할 수 있습니다.
또한 두 모델 모두 자동 압력 제어 기능을 제공하여 용도에 따라 접촉 압력을 무한대로 변경할 수 있고 측정 내내 일정하게 유지합니다.
다음과 같은 물리적 속성을 측정할 수 있습니다:
극저온 옵션으로 -263°C ~ +220°C의 온도에서 측정이 가능하며, 다양한 시료 홀더, 진공 작동 및 제어된 분위기를 제공하고 최고의 정확도와 간편한 취급을 보장하는 DIL L75 V.
고유 기능
고진공 밀폐형 푸시 로드 팽창계
진공 및 제어된 산화 또는 환원 분위기에서의 측정
고해상도 유도 변위 변환기 및 온도 조절 기능으로 정확성과 재현성 극대화
10~1000mN의 연속 접촉 압력에 대한 자동 압력 제어
'글로브박스'에서 사용하기 위한 기계 및 전기 부품의 선택적 분리
마찰이 없는 '제로 마찰' 디자인으로 소결 연구 및 ULE 소재에 이상적
추가 오븐을 위한 턴테이블 옵션이 있는 컴팩트한 디자인
263°C ~ +220°C의 온도에서 측정할 수 있는 극저온 옵션
서비스 핫라인
+49 (0) 9287/880 0
서비스 이용 가능 시간은 월요일부터 목요일 오전 8시부터 오후 4시까지, 금요일 오전 8시부터 오후 12시까지입니다.
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사양
흰색에 검은색
MODELL | DIL L75 Horizontal (DIL L76 Horizontal)* |
|---|---|
| Temperaturbereich: | -180°C bis zu 2800°C |
| LVDT | |
| Delta L Auflösung: | 0,03 nm |
| Messbereich: | +/- 2500 µm |
| Kontaktkraft: | 10 mN bis zu 1 N |
| Optischer Encoder | |
| Delta L Auflösung: | 0,1 nm |
| Messbereich: | +/- 25000 µm |
| Automatische Probenlängendetektion: | ja |
| Kraftmodulation: | ja |
| Kontaktkraft: | 10 mN bis zu 5N |
| Multiple Ofenkonfiguration: | bis zu 2 Öfen |
| Motorisierte Ofenbewegung: | optional |
| Gasdosierung: | Manuelle Gasdosierung oder Mass Flow Controller 1/3 oder mehr Gase |
| Kontaktkrafteinstellung: | inklusive |
| Einzel-/ und Doppeldilatometer: | optional |
| Erweichungspunkt-Erkennung: | inklusive |
| Dichtebestimmung: | inklusive |
| L-DTA: | optional(bis zu 2000°C) |
| Ratenkontrolliertes Sintern (RCS): | inklusive |
| Thermische Bibliothek (Datenbank): | inklusive |
| Elektrische Thermostatisierung des Messkopfes: | inklusive |
| Tieftemperatur-Messoption: | LN2, Intra |
| Vakuumdichter Aufbau: | ja |
| Automatisches Evakuierungssystem: | optional |
| OGS Oxygen Getter: | optional |
| *Spezifikationen hängen von den Konfigurationen ab | |
MODELL | DIL L75 Vertikal* |
|---|---|
| Temperaturbereich: | -263°C bis zu 2800°C |
| LVDT | |
| Delta L Auflösung: | 0,03 nm |
| Messbereich: | +/- 2500 µm |
| Kontaktkraft: | 10 mN bis zu 1 N |
| Optischer Encoder | |
| Delta L Auflösung: | 0,1 nm |
| Messbereich: | +/- 25000 µm |
| Automatische Probenlängendetektion: | ja |
| Kraftmodulation: | ja |
| Kontaktkraft: | 10 mN bis zu 5N |
| Multiple Ofenkonfiguration: | bis zu 3 Öfen |
| Motorisierte Ofenbewegung: | inklusive |
| Gasdosierung: | Manuelle Gasdosierung oder Mass Flow Controller 1/3 oder mehr Gase |
| Kontaktkrafteinstellung: | inklusive |
| Einzel-/ und Doppeldilatometer: | optional |
| Erweichungspunkt-Erkennung: | inklusive |
| Dichtebestimmung: | inklusive |
| L-DTA: | Optional(bis zu 2000°C) |
| Ratenkontrolliertes Sintern (RCS): | inklusive |
| Thermische Bibliothek (Datenbank): | inklusive |
| Elektrische Thermostatisierung des Messkopfes:: | inklusive |
| Tieftemperatur-Messoption: | LN2, Intracooler |
| Vakuumdichter Aufbau: | ja |
| Automatisches Evakuierungssystem: | optional |
| OGS Sauerstoff Getter: | optional |
| *Spezifikationen hängen von den Konfigurationen ab | |
오븐 프로그램
DIL L75 PT 수평
TEMPERATUR | TYP | HEIZELEMENT | ATMOSPHÄRE | TEMPERATURSENSOR |
|---|---|---|---|---|
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Typ K |
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Typ K |
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Typ K |
| RT – 1000°C | L75/220 | Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Typ K |
| RT – 1400°C | L75/230 | Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Typ S |
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Typ S |
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Typ S |
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphit | N2/Vac. | Typ C and/oder Pyrometer |
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphit | N2/Vac. | Pyrometer |
DIL L75 PT 수직
TEMPERATUR | TYP | HEIZELEMENT | ATMOSPHÄRE | TEMPERATURSENSOR |
|---|---|---|---|---|
| -263°C – 300°C | L75/264 He | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Semiconductor / Pt 100 |
| -180°C – 500°C | L75/264 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C – 700°C | L75/264/700 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| -180°C up to 1000°C | L75/264/1000 | Thermo coax | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1000°C | L75/220 | Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type K |
| RT – 1400°C | L75/230 | Kanthal | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1600°C | L75/240 | SiC | inert, oxid., red., vac. | Type S |
| RT – 1650°C | L75/240 PT | Platinum | inert, oxid., vac. | Type S |
| RT – 1750°C | L75/240 M | MoSi2 | inert, oxid., red., vac. | Type B |
| RT – 2000°C | L75/260 | Graphit | N2/Vac. | Type C and/oder Pyrometer |
| RT – 2400°C | L75/270 | Graphit | N2/Vac. | Pyrometer |
| RT – 2800°C | L75/280 | Graphit | N2/Vac. | Pyrometer |
액세서리
- 샘플 준비용 장치
- 다양한 샘플 홀더(크기, 재질)
- 샘플 길이의 수동 또는 온라인 입력을 위한 캘리퍼스
- 최대 3개의 오븐용 턴테이블
- 다양한 가스 박스: 수동, 반자동 및 MFC 제어식
- 소프트웨어 옵션 속도 제어 소결(RCS)
- 다양한 로터리 및 터보 분자 펌프
- 100% H2에서 작동 가능성
- LN2 냉각
소프트웨어
값을 가시화하고 비교 가능하게 만들기
- 유리 전이 및 연화점 측정
- 자동 연화 포인트 스위치 오프, 자유롭게 조정 가능(시스템 보호)
- 절대적 또는 상대적 수축 또는 팽창 표시
- 기술적/물리적 팽창 계수의 시각화 및 계산
- 속도 제어 소결(소프트웨어 옵션)
- 소결 공정 평가
- 밀도 결정
- 자동 평가 루틴
- 시스템 보정(온도, 제로 커브 등)
- 자동 영점 조정
- 자동 펀치 접촉 압력 제어
- 실시간 컬러 디스플레이
- 자동 및 수동 스케일링
- 자유롭게 선택할 수 있는 축의 표시(예: 온도 델타 L(y축) 대비 온도(x축))
- 수학적 계산(예: 일차 및 이차 미분)
- 전체 분석 저장
- 멀티태스킹 기능
- 다중 사용자 기능
- 다양한 커브 섹션을 위한 확대/축소 옵션
- 비교를 위해 여러 개의 커브를 서로 겹쳐서 로드할 수 있습니다.
- 온라인 도움말 메뉴
- 무료 라벨링
- 측정 데이터의 EXCEL® 및 ASCII 내보내기
- 데이터 평활화
- 제로 커브 오프셋
- 커서 기능
- 통계 곡선 평가(신뢰 구간이 있는 평균값 곡선)
- 데이터 및 확장 계수의 표 형식 출력
- 알파 물리, 알파 기술, 상대 팽창 L/L0 계산
- 곡선 산술, 덧셈, 뺄셈, 곱셈
애플리케이션 (Application)
적용 사례: 유리 세라믹
팽창 측정법은 유리 세라믹의 열팽창 계수(CTE)와 연화점을 측정하는 데 탁월한 방법입니다. 절대 팽창, 상대 팽창 및 열팽창 계수(CTE) 외에도 절대 팽창의 첫 번째 미분도 온도에 대해 계산할 수 있습니다. 미분의 O-통로는 열팽창의 최대치이므로 재료의 연화점을 정확하게 계산할 수 있습니다.
적용 예: 석영 샘플을 사용한 DTA 측정
L75 팽창계와 DTA 평가 애드온을 사용하면 결정질(SiO2) 시료에 대해 온도 보정을 동시에 수행한 DTA 측정을 수행할 수 있습니다. 시료의 선형 가열 단계 동안 흡열 및 발열 반응에 의해 제어 동작이 변경되고 소프트웨어 프로그램에 의해 보정됩니다. 이러한 변화로부터 DTA 곡선이 생성됩니다. 문헌에 따르면 이러한 변화는 이산화규소의 경우 574°C에서 일어나기 때문에 DTA 피크를 사용하여 보정을 확인할 수 있습니다.
충분한 정보 제공
