L75 Laser激光热膨胀仪 - L75 Laser Dilatometer

高精密激光膨脹儀

Linseis L75 Laser Dilatometer (DIL Dilatometer) Dilatometry


     Linseis Pico系列激光热膨胀仪的研发实现了超高分辨率和超高精度。分辨率可以达到皮米(0.3nm= 300pm)级别。Linseis L75 激光热膨胀仪的优越性体现在精度是传统顶杆热膨胀仪的33倍。干涉测量原理可以实现更高的精度,特别适用于计算机的特殊校正。

     Linseis L75 Laser激光膨胀仪只需要对样品简单加工。您只需要准备一个与类似用在传统顶杆热膨胀仪上的样品。该系统不要求样品任何特定的几何形状。所有类型的材料,反射或无反射的都可以用该系统进行测量。与传统的双采样顶杆热膨胀仪不同,其测量原理是一种“绝对测量” ,可提供更高的精度,且无须进行校准。

    温度范围 -180°C up to 500°C
    RT up to 1000°C
    分辨率 0.3 nm
    加热/冷却速率* 0.01 K/min ... 50 K/min 
    样品支架 熔融石英
    样品长度 最大 20 mm
    样品直径 最大 ∅ 7 mm
    气氛 惰性、氧化性、还原性、真空
    接口 USB

    *取决于炉体

           所有的LINSEIS热分析设备都是用计算机控制的,各个软件模块仅在Microsoft® Windows®操作系统上运行。完整的软件包括3个模块:温度控制,数据采集和数据分析。与其他热分析系统一样,该用于热膨胀测量的32位Linseis软件可以实现所有测量准备、实施和评估的基本功能。经过专家和应用工程师的努力,LINSEIS开发出这款容易操作且非常实用的软件。

      特点

      • 文本编辑
      • 断电保护
      • 热电偶破损保护
      • 重复测量可最少的输入参数
      • 实时测试评估
      • 测量曲线比较:多达32条曲线
      • 评估结果保存及导出
      • ASCII数据导入与导出
      • 数据生成到MS Excel
      • 多种方法分析(DSC TG 、TMA、DIL等)
      • 曲线放大缩小
      • 一阶/二阶求导
      • 气氛程序控制
      • 统计评估
      • 自由调节坐标轴

      DIL-特点

      •     玻璃转变点及软化点评估
      •     软化点判定及系统保护
      •     显示相对/绝对收缩或膨胀曲线
      •     显示和计算工程/物理膨胀系数
      •     烧结速率控制软件(RCS)
      •     烧结过程分析
      •     半自动分析功能
      •     多系统校正功能
      •     自动归零

        应用:

        • 低膨胀材料热膨胀特性的精密测量:碳,石墨,复合材料,低膨胀玻璃,殷钢合金,石英玻璃等。
        • 半导体材料热膨胀特性的精密测量。
        • 质量控制中材料热膨胀特性的控制问题,如玻璃质量检测,密封材料,两元合金,精密电子仪器等。

         

        材料

        聚合物,陶瓷/玻璃/建材,金属/合金,无机物

        工业领域

        陶瓷,建材和玻璃工业,汽车/航空/航天,研究开发和学术界,金属/合金工业,电子工业

        因瓦合金

        空气气氛中加热因瓦合金样品测量四次。温度范围为室温至200℃。这一实验比较清楚地表明了激光测量技术的高精度。四次测量的差别是低至0.01 %FS 。利用具有专利技术的LINSEIS激光膨胀仪,可以获得比传统膨胀计够高33倍的分辨率。

          以下是我们提供配件的简要摘录:

          •     样品制备设备
          •     多种真空泵和分子泵
          •     不同类型(设计/材质)的样品支架
          •     通过游标卡尺对试样长度的在线输入
          •     选择多达4种气体的气箱