{"id":103870,"date":"2024-07-19T14:52:24","date_gmt":"2024-07-19T12:52:24","guid":{"rendered":"https:\/\/www.linseis.com\/messgeraete\/propriedade-electrica\/pelicula-fina-analise-de-pelicula-fina\/tf-lfa-l54\/"},"modified":"2026-03-18T14:25:42","modified_gmt":"2026-03-18T13:25:42","slug":"tf-lfa-l54","status":"publish","type":"messgeraete","link":"https:\/\/www.linseis.com\/pt-pt\/equipamentos\/propriedade-electrica\/pelicula-fina-analise-de-pelicula-fina\/tf-lfa-l54\/","title":{"rendered":"TF-LFA L54"},"content":{"rendered":"\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tCarater\u00edsticas<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tEspecifica\u00e7\u00f5es<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tSolicita um or\u00e7amento<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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TF-LFA L54: Termorreflect\u00e2ncia no dom\u00ednio da frequ\u00eancia para a an\u00e1lise t\u00e9rmica de pel\u00edculas finas<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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O LINSEIS TF-LFA L54<\/b> \u00e9 um sistema avan\u00e7ado de medi\u00e7\u00e3o baseado em laser que mede a Termorreflect\u00e2ncia no Dom\u00ednio da Frequ\u00eancia (FDTR)<\/b><\/a>para a carateriza\u00e7\u00e3o t\u00e9rmica sem contacto de <\/b> pel\u00edculas finas pel\u00edculas finas<\/b><\/a> finas e estruturas multicamadas<\/b>.<\/p>

Permite a determina\u00e7\u00e3o exacta da condutividade t\u00e9rmica<\/b><\/a>, <\/b>difusividade t\u00e9rmica<\/b><\/a>efusividade, <\/b>capacidade t\u00e9rmica volum\u00e9trica<\/b><\/a> e condutividade t\u00e9rmica limite<\/b> – mesmo em camadas ultra-finas de apenas alguns nan\u00f3metros.<\/p>

Concebido para investiga\u00e7\u00e3o e aplica\u00e7\u00f5es industriais de topo de gama, o TF-LFA L54 combina uma sensibilidade excecional, uma vasta gama de temperaturas<\/b> (desde a temperatura ambiente at\u00e9 500 \u00b0C) e op\u00e7\u00f5es modulares<\/b> para anisotropia, mapeamento de amostras e visualiza\u00e7\u00e3o \u00f3tica.<\/p>

Este sistema inovador oferece uma precis\u00e3o, estabilidade e flexibilidade excepcionais e \u00e9, por isso, ideal para a carateriza\u00e7\u00e3o de <\/b>semicondutores<\/b><\/a>revestimentos, materiais termoel\u00e9ctricos, LEDs e outras tecnologias avan\u00e7adas de pel\u00edcula fina.<\/b><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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Carater\u00edsticas \u00fanicas<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Atualiza\u00e7\u00e3o da tecnologia \u00f3tica<\/strong><\/h3>

O TF-LFA L54<\/b> utiliza o m\u00e9todo de Termorreflect\u00e2ncia no Dom\u00ednio da Frequ\u00eancia (FDTR)<\/b> para an\u00e1lise t\u00e9rmica sem contacto de pel\u00edculas finas<\/b>.<\/p>

As vantagens mais importantes da tecnologia FDTR incluem<\/p>

  • Medi\u00e7\u00e3o sem contacto<\/b> – elimina a interfer\u00eancia mec\u00e2nica e assegura a m\u00e1xima precis\u00e3o com amostras sens\u00edveis ou microsc\u00f3picas.<\/li>
  • Precis\u00e3o de alta frequ\u00eancia<\/b> – permite a determina\u00e7\u00e3o das propriedades t\u00e9rmicas numa vasta gama de modula\u00e7\u00e3o para uma variedade de materiais de pel\u00edcula fina.<\/li>
  • Estabilidade melhorada<\/b> – o alinhamento \u00f3tico optimizado e a focagem autom\u00e1tica garantem resultados reprodut\u00edveis sem ajuste manual.<\/li>
  • Ampla gama de medi\u00e7\u00e3o<\/b> – permite a an\u00e1lise de camadas com uma espessura de alguns nan\u00f3metros a v\u00e1rios micr\u00f3metros a temperaturas at\u00e9 500 \u00b0C.<\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    Novas fun\u00e7\u00f5es de hardware<\/strong><\/h3>

    Design \u00f3tico avan\u00e7ado<\/b><\/p>

    O TF-LFA L54 possui uma configura\u00e7\u00e3o de laser duplo de \u00faltima gera\u00e7\u00e3o com um laser de bomba modulado (405 nm)<\/b> e um laser de sonda cont\u00ednuo (532 nm)<\/b> para excita\u00e7\u00e3o e dete\u00e7\u00e3o precisas. Esta configura\u00e7\u00e3o optimizada garante a m\u00e1xima estabilidade do sinal e sensibilidade de medi\u00e7\u00e3o, mesmo com revestimentos ultra-finos. <\/p>

    Ajuste autom\u00e1tico da focagem<\/p>

    Um sistema de focagem autom\u00e1tica<\/b> integrado optimiza continuamente a posi\u00e7\u00e3o do laser durante a medi\u00e7\u00e3o, eliminando a necessidade de ajustes manuais e garantindo resultados reprodut\u00edveis para cada amostra.<\/p>

    Fun\u00e7\u00e3o de mapeamento t\u00e9rmico<\/b><\/p>

    Um modo<\/b> opcional de mapeamento de amostras<\/b> permite aos utilizadores analisar as propriedades t\u00e9rmicas em v\u00e1rios pontos ou \u00e1reas da superf\u00edcie da amostra – ideal para examinar camadas n\u00e3o homog\u00e9neas ou verificar a uniformidade dos revestimentos.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    Sistema de c\u00e2mara integrado <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    O m\u00f3dulo de c\u00e2mara<\/b> opcional permite uma visualiza\u00e7\u00e3o em direto da \u00e1rea de medi\u00e7\u00e3o, possibilitando assim o posicionamento exato do ponto laser e a inspe\u00e7\u00e3o visual da superf\u00edcie da amostra.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Liga\u00e7\u00e3o do Laborat\u00f3rio Linseis <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Com o Linseis Lab Link, oferecemos uma solu\u00e7\u00e3o integrada para eliminar incertezas nos resultados de medi\u00e7\u00e3o. Com acesso direto aos nossos especialistas em aplica\u00e7\u00f5es atrav\u00e9s do software, recebe conselhos sobre o procedimento de medi\u00e7\u00e3o correto e como analisar os resultados. Esta comunica\u00e7\u00e3o direta garante resultados \u00f3ptimos e maximiza a efici\u00eancia das suas medi\u00e7\u00f5es para uma an\u00e1lise e investiga\u00e7\u00e3o precisas e um fluxo de processo suave. <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Configura\u00e7\u00e3o de laser duplo <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    O TF-LFA L54 tem uma configura\u00e7\u00e3o de laser duplo<\/b> de alta precis\u00e3o que consiste num laser de bomba modulado (405 nm) e num laser de sonda cont\u00ednuo (532 nm).<\/p>

    Esta configura\u00e7\u00e3o permite uma dete\u00e7\u00e3o est\u00e1vel e de alta resolu\u00e7\u00e3o do<\/b> sinal de reflex\u00e3o t\u00e9rmica e garante medi\u00e7\u00f5es t\u00e9rmicas precisas mesmo com camadas ultra-finas na gama dos nan\u00f3metros.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Alinhamento \u00f3tico autom\u00e1tico <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Um sistema<\/b> integrado de focagem autom\u00e1tica e de alinhamento<\/b> ajusta continuamente a focagem do laser durante o funcionamento.<\/p>

    Isto elimina a necessidade de calibra\u00e7\u00e3o manual, resultando em condi\u00e7\u00f5es de medi\u00e7\u00e3o consistentes<\/b>, melhor reprodutibilidade e menor influ\u00eancia do operador.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t