Analizator Gazów Wylotowych „in-situ” (EGA)

Analizator „in-situ” gazów wylotowych,

Możliwości techniczne:

• FTIR: analiza produktów gazowych lub lotnych śladów, poniżej zakresu ppm (np. H2O, CO2, CO,
   H2S...). Cząsteczki muszą być polarne.

• Spektroskopia ramanowska: analiza produktów gazowych. Możłiwa jest również analiza niepolarnych
   cząsteczek (np. H2 lub  or N2).

• ELIF: Excimer Laser Induced Fragmentation Fluorescence: Oparta na technice laserowej UV, metoda
   analizy gazowych związków metali alkalicznych (np. NaCI, NaOH, KCI, KOH). 

 

Zalety pomiarów optycznych “in-situ”:

• Brak chłodzenia mierzonego gazu (brak kondensacji, nieporządanych reakcji, zmian równowagi)

• Wiele materiałów o wysokiej temperaturze kondensacji, np. metali alkalicznych (Na, K …)moż być
   oznaczanych, jedynie za pomocą ogrzanej kapilary 200 - 250°C, port optyczny umożliwia pomiar
   poniżej 1600°C

• Brak ingerencji w system pomiarowy (np. w przypadku zasysania gazu do próżni)

• Brak kontaminacji analizowanego gazu MS/FTIR

• Pomiar w czasie rzeczywistym (brak „martwego czasu”, zanim mierzona objętośc trafi do aparatu)