{"id":41776,"date":"2024-07-19T14:52:24","date_gmt":"2024-07-19T12:52:24","guid":{"rendered":"https:\/\/www.linseis.com\/messgeraete\/conductivite-thermique\/tf-lfa\/"},"modified":"2026-03-18T14:16:00","modified_gmt":"2026-03-18T13:16:00","slug":"tf-lfa-l54","status":"publish","type":"messgeraete","link":"https:\/\/www.linseis.com\/fr\/produits\/analyse-des-proprietes-electriques\/thin-film-thin-film-analysis\/tf-lfa-l54\/","title":{"rendered":"TF-LFA L54"},"content":{"rendered":"\t\t
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\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tDemander un devis<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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TF-LFA L54 : Thermor\u00e9flectance dans le domaine fr\u00e9quentiel pour l'analyse thermique des couches minces<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Le LINSEIS TF-LFA L54<\/b> est un syst\u00e8me de mesure avanc\u00e9 bas\u00e9 sur le laser qui mesure la La thermor\u00e9flectance dans le domaine fr\u00e9quentiel (FDTR)<\/b><\/a>-pour la caract\u00e9risation thermique sans contact des <\/b>couches minces<\/b><\/a> et les structures multicouches<\/b>.<\/p>

Il permet de d\u00e9terminer avec pr\u00e9cision la Conductivit\u00e9 thermique<\/b><\/a>, <\/b>Conductivit\u00e9 thermique<\/b><\/a>, effusivit\u00e9, <\/b>la capacit\u00e9 thermique volum\u00e9trique<\/b><\/a> et la conductivit\u00e9 thermique limite<\/b> – m\u00eame dans des couches ultrafines de quelques nanom\u00e8tres seulement.<\/p>

Con\u00e7u pour la recherche et les applications industrielles de haute qualit\u00e9, le TF-LFA L54 combine une sensibilit\u00e9 exceptionnelle, une large gamme de temp\u00e9ratures<\/b> (de la temp\u00e9rature ambiante \u00e0 500 \u00b0C) et des options modulaires<\/b> pour l’anisotropie, la cartographie des \u00e9chantillons et la visualisation optique.<\/p>

Ce syst\u00e8me innovant offre une pr\u00e9cision, une stabilit\u00e9 et une flexibilit\u00e9 exceptionnelles, ce qui en fait un outil id\u00e9al pour la caract\u00e9risation des semi-conducteurs <\/b>. Semi-conducteurs<\/b><\/a>Les r\u00e9sultats de l’analyse de la structure des couches minces peuvent \u00eatre utilis\u00e9s pour la caract\u00e9risation des mat\u00e9riaux, des rev\u00eatements, des mat\u00e9riaux thermo\u00e9lectriques, des LED et d’autres technologies avanc\u00e9es de couches minces.<\/b><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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Caract\u00e9ristiques uniques<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Mise \u00e0 jour de la technologie optique<\/strong><\/h3>

Le TF-LFA L54<\/b> utilise la m\u00e9thode FDTR (Frequency Domain Thermoreflectance)<\/b> pour l’analyse thermique sans contact des couches minces<\/b>.<\/p>

Les principaux avantages de la technologie FDTR sont les suivants :<\/p>

  • Mesure sans contact<\/b> – \u00e9limine les interf\u00e9rences m\u00e9caniques et garantit une pr\u00e9cision maximale pour les \u00e9chantillons sensibles ou microscopiques.<\/li>
  • Haute pr\u00e9cision de fr\u00e9quence<\/b> – permet de d\u00e9terminer les propri\u00e9t\u00e9s thermiques sur une large plage de modulation pour une grande vari\u00e9t\u00e9 de mat\u00e9riaux en couches minces.<\/li>
  • Stabilit\u00e9 am\u00e9lior\u00e9e<\/b> – l’alignement optique optimis\u00e9 et la mise au point automatique garantissent des r\u00e9sultats reproductibles sans ajustement manuel.<\/li>
  • Large plage de mesure<\/b> – permet d’analyser des couches de quelques nanom\u00e8tres \u00e0 plusieurs microm\u00e8tres d’\u00e9paisseur \u00e0 des temp\u00e9ratures allant jusqu’\u00e0 500\u00b0C<\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    Nouvelles fonctionnalit\u00e9s mat\u00e9rielles<\/strong><\/h3>

    Design optique avanc\u00e9<\/b><\/p>

    Le TF-LFA L54 est dot\u00e9 d’une configuration \u00e0 double laser de pointe, avec un laser de pompage modul\u00e9 (405 nm)<\/b> et un laser \u00e0 sonde continue (532 nm)<\/b> pour une excitation et une d\u00e9tection pr\u00e9cises. Cette configuration optimis\u00e9e garantit une stabilit\u00e9 de signal et une sensibilit\u00e9 de mesure maximales, m\u00eame pour les couches ultrafines. <\/p>

    R\u00e9glage automatique de la mise au point<\/p>

    Un syst\u00e8me de mise au point automatique<\/b> int\u00e9gr\u00e9 optimise en permanence la position du laser pendant la mesure, ce qui \u00e9limine les r\u00e9glages manuels et garantit des r\u00e9sultats reproductibles pour chaque \u00e9chantillon.<\/p>

    Fonction de cartographie thermique<\/b><\/p>

    Un mode<\/b> optionnel de cartographie des \u00e9chantillons<\/b> permet aux utilisateurs d’analyser les propri\u00e9t\u00e9s thermiques en plusieurs points ou zones de la surface de l’\u00e9chantillon – id\u00e9al pour l’\u00e9tude des couches non homog\u00e8nes ou la v\u00e9rification de l’uniformit\u00e9 des rev\u00eatements.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    Syst\u00e8me de cam\u00e9ra int\u00e9gr\u00e9 <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Le module de cam\u00e9ra<\/b> en option offre une vue en direct de la zone de mesure, permettant ainsi un positionnement pr\u00e9cis du spot laser et un contr\u00f4le visuel de la surface de l’\u00e9chantillon.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Lien Linseis Lab <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Avec Linseis Lab Link, nous proposons une solution int\u00e9gr\u00e9e pour \u00e9liminer les incertitudes dans les r\u00e9sultats de mesure. Gr\u00e2ce \u00e0 un acc\u00e8s direct \u00e0 nos experts en applications via le logiciel, vous pouvez obtenir des conseils sur la m\u00e9thode de mesure et l’interpr\u00e9tation des r\u00e9sultats les plus appropri\u00e9s. Cette communication directe garantit des r\u00e9sultats optimaux et maximise l’efficacit\u00e9 de vos mesures pour des analyses et des recherches pr\u00e9cises, ainsi qu’un d\u00e9roulement fluide des processus. <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Configuration double laser <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Le TF-LFA L54 dispose d’une configuration \u00e0 double laser<\/b> de haute pr\u00e9cision, compos\u00e9e d’un laser de pompage modul\u00e9 (405 nm) et d’un laser \u00e0 sonde continue (532 nm).<\/p>

    Cette configuration permet une acquisition stable et \u00e0 haute r\u00e9solution<\/b> du signal de thermor\u00e9flexion et garantit des mesures thermiques pr\u00e9cises, m\u00eame pour des couches ultrafines de l’ordre du nanom\u00e8tre.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Alignement optique automatique <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Un syst\u00e8me<\/b> int\u00e9gr\u00e9 de mise au point et d’alignement automatiques<\/b> ajuste en permanence la mise au point du laser pendant le fonctionnement.<\/p>

    Il n’est donc plus n\u00e9cessaire de proc\u00e9der \u00e0 un \u00e9talonnage manuel, ce qui se traduit par des conditions de mesure constantes<\/b>, une meilleure reproductibilit\u00e9 et une r\u00e9duction de l’intervention de l’op\u00e9rateur.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t