X

Effet Hall

L79/HCS-Système de caractérisation Hall

The L79/HCS Cet appareil permet de caractériser les paramètres suivant des semi-conducteurs: la mobilité, la  résistivité, la concentration de porteurs de charge et le  coefficient Hall.

Ce dispositifde paillasse peut être équipé de divers porte-échantillons afin d’analyser des échantillons selon leur géométrie et la température. Des systèmes de refroidissement à l’azote liquide et un système de chauffage jusqu’à 240°C (options) permettent de couvrir toute application. Un choix d’aimants permanents et d’électro-aimants couvrent une plage de champs magnétiques soit fixes ou variables jusqu’à plusieurs Tesla.

Le logiciel performant sous Windows permet de tracer des diagrammes I-V et I-R.

Cet appareil  permet de caractériser divers matériaux comme par exemple : Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (type N &type P), couches de métaux, oxydes, etc.

Testez les capacités de ce système de mesure et envoyez-nous vos échantillons.

Caractéristiques

  • Concentration de porteurs de charge
  • Résistivité
  • Mobilité
  • Conductivité
  • Alpha (ratio horizontal/vertical de la résistance)
  • Coefficient Hall
  • Magnétorésistance

L79 HCS

Linseis Hall L79 HCS

Beschreibung L79 HCS

Details

TFA

Linseis TFA

Beschreibung TFA

Details

Nous allons vous aider:

Linseis division ventes

Tél.: +49 (9287) 880-0
E-mail: info@linseis.de

Raccourcis

Téléchargement

Linseis Product Overview English

Catalogue des produits – Anglais (1Mb)

Download

Catalogue des produits – Allemand (1Mb)

Download