{"id":42302,"date":"2024-07-19T14:52:24","date_gmt":"2024-07-19T12:52:24","guid":{"rendered":"https:\/\/www.linseis.com\/messgeraete\/conductividad-termica\/tf-lfa\/"},"modified":"2026-03-18T14:20:29","modified_gmt":"2026-03-18T13:20:29","slug":"tf-lfa-l54","status":"publish","type":"messgeraete","link":"https:\/\/www.linseis.com\/es\/productos\/propiedad-electrica\/peliculas-finas-analisis-de-peliculas-finas\/tf-lfa-l54\/","title":{"rendered":"TF-LFA L54"},"content":{"rendered":"\t\t
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TF-LFA L54: Termorreflexi\u00f3n en el dominio de la frecuencia para el an\u00e1lisis t\u00e9rmico de pel\u00edculas finas<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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El LINSEIS TF-LFA L54<\/b> es un avanzado sistema de medici\u00f3n basado en l\u00e1ser que mide la termorreflexi\u00f3n en el dominio de la frecuencia (FDTR)<\/b><\/a>para la caracterizaci\u00f3n t\u00e9rmica sin contacto de <\/b> pel\u00edculas finas pel\u00edculas finas<\/b><\/a> y estructuras multicapa<\/b>.<\/p>

Permite determinar con precisi\u00f3n conductividad t\u00e9rmica<\/b><\/a>, <\/b>difusividad t\u00e9rmica<\/b><\/a>efusividad <\/b>capacidad calor\u00edfica volum\u00e9trica<\/b><\/a> y conductividad t\u00e9rmica l\u00edmite<\/b>, incluso en capas ultrafinas de unos pocos nan\u00f3metros.<\/p>

Dise\u00f1ado para la investigaci\u00f3n y las aplicaciones industriales de gama alta, el TF-LFA L54 combina una sensibilidad excepcional, un amplio rango de temperaturas<\/b> (desde temperatura ambiente hasta 500 \u00b0C) y opciones modulares<\/b> para la anisotrop\u00eda, el mapeo de muestras y la visualizaci\u00f3n \u00f3ptica.<\/p>

Este innovador sistema ofrece una precisi\u00f3n, estabilidad y flexibilidad extraordinarias, por lo que es ideal para la caracterizaci\u00f3n de <\/b>semiconductores<\/b><\/a>recubrimientos, materiales termoel\u00e9ctricos, LED y otras tecnolog\u00edas avanzadas de capa fina.<\/b><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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Caracter\u00edsticas \u00fanicas<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Actualizaci\u00f3n de la tecnolog\u00eda \u00f3ptica<\/strong><\/h3>

El TF-LFA L54<\/b> utiliza el m\u00e9todo de termorreflexi\u00f3n en el dominio de la frecuencia (FDTR)<\/b> para el an\u00e1lisis t\u00e9rmico sin contacto de pel\u00edculas finas<\/b>.<\/p>

Las ventajas m\u00e1s importantes de la tecnolog\u00eda FDTR incluyen<\/p>

  • Medici\u00f3n sin contacto<\/b>: elimina las interferencias mec\u00e1nicas y garantiza la m\u00e1xima precisi\u00f3n con muestras sensibles o microsc\u00f3picas.<\/li>
  • Precisi\u00f3n de alta frecuencia<\/b>: permite determinar las propiedades t\u00e9rmicas en un amplio rango de modulaci\u00f3n para una gran variedad de materiales de pel\u00edcula fina.<\/li>
  • Estabilidad mejorada<\/b>: la alineaci\u00f3n \u00f3ptica optimizada y el enfoque autom\u00e1tico garantizan resultados reproducibles sin ajuste manual.<\/li>
  • Gran rango de medici\u00f3n<\/b>: permite analizar capas con un grosor de unos pocos nan\u00f3metros a varios micr\u00f3metros a temperaturas de hasta 500 \u00b0C.<\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    Nuevas funciones de hardware<\/strong><\/h3>

    Dise\u00f1o \u00f3ptico avanzado<\/b><\/p>

    El TF-LFA L54 tiene una configuraci\u00f3n de l\u00e1ser doble de \u00faltima generaci\u00f3n con un l\u00e1ser de bombeo modulado (405 nm)<\/b> y un l\u00e1ser de sonda continua (532 nm<\/b> ) para una excitaci\u00f3n y detecci\u00f3n precisas. Esta configuraci\u00f3n optimizada garantiza la m\u00e1xima estabilidad de la se\u00f1al y sensibilidad de medici\u00f3n, incluso con revestimientos ultrafinos. <\/p>

    Ajuste autom\u00e1tico del enfoque<\/p>

    Un sistema<\/b> integrado de autoenfoque<\/b> optimiza continuamente la posici\u00f3n del l\u00e1ser durante la medici\u00f3n, eliminando la necesidad de ajustes manuales y garantizando resultados reproducibles para cada muestra.<\/p>

    Funci\u00f3n de mapa t\u00e9rmico<\/b><\/p>

    Un modo<\/b> opcional de mapeo de la<\/b> muestra permite a los usuarios analizar las propiedades t\u00e9rmicas en varios puntos o zonas de la superficie de la muestra, lo que resulta ideal para examinar capas no homog\u00e9neas o comprobar la uniformidad de los revestimientos.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    Sistema de c\u00e1maras integrado <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    El m\u00f3dulo de c\u00e1mara<\/b> opcional proporciona una visi\u00f3n en directo de la zona de medici\u00f3n y permite as\u00ed el posicionamiento exacto del punto l\u00e1ser y la inspecci\u00f3n visual de la superficie de la muestra.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Enlace al laboratorio Linseis <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Con Linseis Lab Link, ofrecemos una soluci\u00f3n integrada para eliminar las incertidumbres en los resultados de las mediciones. Con el acceso directo a nuestros expertos en aplicaciones a trav\u00e9s del software, recibir\u00e1s asesoramiento sobre el procedimiento de medici\u00f3n correcto y c\u00f3mo analizar los resultados. Esta comunicaci\u00f3n directa garantiza unos resultados \u00f3ptimos y maximiza la eficacia de tus mediciones para un an\u00e1lisis e investigaci\u00f3n precisos y un flujo de procesos sin problemas. <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Configuraci\u00f3n l\u00e1ser doble <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    El TF-LFA L54 tiene una configuraci\u00f3n l\u00e1ser dual<\/b> de alta precisi\u00f3n que consiste en un l\u00e1ser de bombeo modulado (405 nm) y un l\u00e1ser de sonda continua (532 nm).<\/p>

    Esta configuraci\u00f3n permite una detecci\u00f3n estable y de alta resoluci\u00f3n de<\/b> la se\u00f1al de reflexi\u00f3n t\u00e9rmica y garantiza mediciones t\u00e9rmicas precisas incluso con capas ultrafinas en el rango nanom\u00e9trico.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Alineaci\u00f3n \u00f3ptica autom\u00e1tica <\/h3><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Un sistema<\/b> integrado de autoenfoque y alineaci\u00f3n<\/b> ajusta continuamente el enfoque del l\u00e1ser durante el funcionamiento.<\/p>

    Esto elimina la necesidad de calibraci\u00f3n manual, lo que da como resultado unas condiciones de medici\u00f3n uniformes<\/b>, una mayor reproducibilidad y una menor influencia del operario.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t