L74 Heating Microscope

Erhitzungsmikroskop

L74 / Heating Microscope

Einzigartige Möglichkeiten der optischen Bilderfassung dank des Linseis L74 HM Erhitzungsmikroskops. Aufgrund des größten Temperaturbereichs (-150 bis 2000°C) und der vakuumdichten Probenkammer ergeben sich völlig neue Anwendungsfelder. Mit einer hochauflösenden Farbbildkamera sind Auflösungen bis zu 1 Mikrometer auf einer Probenfläche von bis zu 10 x 14 mm realisierbar. Diese liefern einen Eindruck verschiedener thermischer Veränderungen in Echtzeit. Vom Sinterverhalten von Spezialkeramiken über Oberflächeneffekte an Festkörpern und Flüssigkeiten, Benetzungseigenschaften und Kontaktwinkelmessungen zwischen Festkörpern und Flüssigkeiten bzw. Schmelzen ist nahezu jede Anwendung realisierbar.

Das Erhitzungsmikroskop verfügt über einen bis 10-5 mbar evakuierbaren Ofen. Inerte, reduzierende sowie oxidierende Atmosphären sind somit ohne weiteres in einem Bereich von -150°C bis 1600°C möglich. Die mitgelieferte Software erlaubt neben der Auswertung von Videos und Fotos auch eine automatische Bestimmung von Benetzungs- und Kontaktwinkeln sowie die ereignisgeregelte Ofenansteuerung. Auch die Bestimmung der charakteristischen Temperaturpunkte während der Erhitzung (sphere point, half sphere point usw.) nach DIN 51730, ISO 540 oder CEN/TS 15404 erfolgt automatisch mittels Software.

Die Vorteile des Linseis Erhitzungsmikroskops auf einen Blick:

  • Kontaktfreie Probenmessung
  • Nahezu alle Atmosphären möglich
  • Temperaturbereiche von -150°C bis 2000°C möglich
  • Automatische Auswertung der relevanten Temperaturpunkte
  • Video und Bildaufzeichnung in Echtzeit
Optisches Messsystem:Erhitzungsmikroskop mit hochauflösender Kamera und vollautomatischen Fokus
Temperaturbereich:-100°C bis 500°C
RT up to 500/1000/1500/2000°C
Messsystem:optisch kontaktlos
Genauigkeit:

bis 1 µm

Sichtfeld:10 x 14 mm
Atmosphäre:Inert, reduzierend, oxid., vakuum (optional)
Vakuum:bis 10E-5 mbar
Heizrate:0.01 bis 100°c/min. (Ofen abhängig)
Int. Standards:

ASTM D1857, CEN/TR 15404,BS 1016:Part 15, CEN/TS 15370-1, DIN 51730, IS 12891, ISO 540,   NF M03-048

Morphometrics:Height, Width, Contact angle, Height/Width Ratio, Area, Roundness, More and freely user-selectable also possible
Interface:USB

Kontaktwinkel

 

damage analysis of a coated quartz disc

 

Keramik glaze