Chip DSC 1 – Indiumschmelzen – Aufheizraten
Indium-Referenz – schnelle Aufheizraten – Enthalpiekalibrierung
Mit der Linseis Chip DSC-Serie können aufgrund der geringen thermischen Masse des Chipsensors extrem hohe Heizraten von bis zu 1000 K/min erreicht werden. Die Reproduzierbarkeit der Schmelzenthalpie bleibt auch bei hohen Heizraten hervorragend. Dies ist einer der Hauptvorteile des Systems und ermöglicht einen hohen Probendurchsatz bei der Qualitätskontrolle und der Analyse der thermischen Vorgeschichte und des Wärmeeinflusses, wenn schnelle Heiz- und Kühlraten erforderlich sind, beispielsweise bei der Polymeranalyse.
App. Nr. 02-011-007 Chip DSC 1 – Indiumschmelzen – Aufheizraten
Das Beispiel zeigt den Schmelzpunkt eines Indium-Kalibrierreferenzmaterials, gemessen bei unterschiedlichen Heizraten (5 K/min; 50 K/min; 100 K/min; 200 K/min; 300 K/min und 500 K/min) auf einem Linseis Chip DSC 1. Bei höherer Geschwindigkeit werden die Peaks breiter und der Offset kann nicht mehr genau bestimmt werden. Onset-Temperatur und Enthalpie werden nicht beeinflusst.
